Digitales Rasterelektronenmikroskop mit thermischer Feldemission, EDX Röntgenmikrobereichsanalysegerät, Sputter/Coater
Digitales Rasterelektronenmikroskop mit thermischer Feldemission, EDX Röntgenmikrobereichsanalysegerät, Sputter/Coater
批准号:
55170462
负责人:
金额:
$0.0万
依托单位:
依托单位国家:
德国
项目类别:
Major Research Instrumentation
财政年份:
2007
资助国家:
德国
项目状态:
未结题
起止时间:
2006-12-31 至 --
中文摘要
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英文摘要
Das 1992 im Fachgebiet Historische Geologie/Paläontologie angeschaffte Rasterelektronen-mikroskop CamScan 44 mit den analytischen Einrichtungen EDX und WDX bedarf dringend einer Ersatzbeschaffung. Nach 14 Betriebsjahren wird die Gerätekonfiguration zusehends reparaturanfälli-ger, wobei die anstehenden Reparaturkosten inzwischen drastisch den bestehenden Gerätewert übersteigen. Die analoge Gerätekonzeption des CamScan 44 sowie die Qualität bzw. das Fehlen bestimmter Peripheriegeräte (z.B. kein Bildspeicher, keine Bildverarbeitung, keine online-Verknüpfung) entspricht bei weitem nicht mehr den heutigen Anforderungen an eine moderne Elektro-nenmikroskopie. Das betrifft ebenso die zum Gerät gehörende Sputter-/Coater- Anlage. - Neue wis-senschaftliche Fragestellungen und weitere moderne Forschungsaspekte, die durch neue Professuren und Junior-Professuren eingebracht werden, erfordern dringend ein Gerät, dass ein Bearbeiten an-spruchsvoller Proben ungesputtert bei niedrigen Beschleunigungsspannungen erlaubt (z.B. Asphalte, Tone, Karbonate, magnetische Partikel). Im Gegensatz zum jetzigen Analoggerät ist nunmehr eine digitale Konfiguration dringend erforderlich, denn nur so ist ein moderner, zeitgemäßer Einsatz auch im internationalen wissenschaftlichen Austausch und Wettbewerb sicherzustellen. Die genannten Aspekte kommen auch dem verstärkten Einsatz in der Lehre zugute.
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专著(0)
科研奖励(0)
会议论文
DOI:
10.1016/j.micromeso.2011.09.025
发表时间:
2012-03-15
期刊:
MICROPOROUS AND MESOPOROUS MATERIALS
影响因子:
5.2
作者:
[Luehrs, Hanna, Derr, Jewgenij, Fischer, Reinhard X.]
通讯作者:
Fischer, Reinhard X.
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