Development and application of nano-analysis of optical materials by multi-dimensional spectrum image technique

多维光谱图像技术光学材料纳米分析的开发与应用

• 批准号: 21360321
• 负责人: MUTO Shunsuke
• 金额: $ 11.48万
• 依托单位: Nagoya University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
• 财政年份: 2009
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2009 至 2011
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-21360321/
• 关键词: 発光材料; 透過電子顕微鏡; カソードルミネッセンス; 電子エネルギー損失分光; スペクトラムイメージ; 多変量解析; 蛍光材料

The main achievement of this study is summarized in the following(1) We succeeded in developing a TEM specimen holder with the light-collecting system integrated, whose collection efficiency was increased by two orders of magnitude. We confirmed that it was able to measure cathodoluminescence from nanometer areas of optical materials.(2) We improved a program for multivariate curve resolution and clarified the nano-structure and spatial distributions of the chemical bonding states of the white-luminescent carbonized meso-porous silica nanocomposite, consisting of only ubiquitous elements.

本研究的主要成果总结如下：(1)成功研制了集成光采集系统的TEM标本架，其采集效率提高了两个数量级。我们证实了它能够从光学材料的纳米区域测量阴极发光。(2)改进了多元曲线解析程序，明确了白光碳化介孔二氧化硅纳米复合材料的纳米结构和化学键态的空间分布。

项目成果

反応触媒濃度によるメソポーラスカーボンシリカの発光色制御

通过反应催化剂浓度控制介孔碳二氧化硅的发射颜色

• 发表时间: 2012
• 作者: 佐藤功二;石川由加里;石井陽祐;川崎晋司;武藤俊介
• 通讯作者: 武藤俊介

Quantitative site Occupancy Determination of Multi-Rare-Earth Elements Doped in Ca 2 SnO 4 Phosphor by Electron Channeling Microanalysis

电子通道微量分析法定量测定Ca 2 SnO 4 荧光粉中多种稀土元素的占据位点

• 发表时间: 2010
• 作者: Y.Fujimichi;S.Muto;K.Tatsumi;H.Yamane;K.Kawano
• 通讯作者: K.Kawano

Ge添加シリカガラス発光材料のXAFS-S/TEM局所構造解析

掺Ge石英玻璃发光材料的XAFS-S/TEM局域结构分析

• 发表时间: 2011
• 作者: 吉田朋子;武藤俊介;レニユリアティ;吉田寿雄
• 通讯作者: 吉田寿雄

Ge添加シリカガラスの紫外発光サイト局所構造のEXAFS-RMC解析

掺Ge石英玻璃紫外发射位局部结构的EXAFS-RMC分析

• 发表时间: 2010
• 作者: 吉田朋子;武藤俊介;Leny Yuliati;吉田寿雄
• 通讯作者: 吉田寿雄

Comparative study of annealing and oxidation effects in a-SiC:H and a-SiC thin films deposited by radio-frequency magnetron sputtering

• DOI: 10.1016/j.tsf.2010.11.005
• 发表时间: 2011-01
• 期刊: Thin Solid Films
• 影响因子: 2.1
• 作者: A. Vasin;S. Muto;Y. Ishikawa;A. Rusavsky;Tomohiko Kimura;V. Lysenko;A. Nazarov