Design of high reliability digital circuits having tolerance abilityfor noise and process variation

具有抗噪声和过程变化能力的高可靠性数字电路设计

• 批准号: 21500059
• 负责人: MIURA Yukiya
• 金额: $ 2.75万
• 依托单位: Tokyo Metropolitan University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
• 财政年份: 2009
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2009 至 2012
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-21500059/
• 关键词: ディペンダブルコンピューティング; ノイズ; フリップフロップ; VLSI; 高信頼化設計; ディペンダルブルコンピューティング; 遅延故障; 遅延検知; ばらつき

According to reduction of a supply voltage, speed-up of an operation speed and scale-down of devise dimensions of VLSIs, malfunction of VLSIscaused by noise is becoming a serious problem. In this study, we developed flip-flopswhich have tolerance for noise induced on a data signal line. As the proposed flip-flops do not require any additional signal and are compatible circuit structureswith existing circuits, it is possible to mix with circuits of conventional design. Furthermore, it was shown that the developed circuit function can be extended to detection of increase and decrease in the delay time of a data signal, and it can apply to correction of signal delay.

随着电源电压的降低、操作速度的加快以及VLSI的设计尺寸的缩小，由噪声引起的VLSI故障正成为一个严重的问题。在这项研究中，我们开发了触发器，它具有对数据信号线上引起的噪声的耐受性。由于所提出的触发器不需要任何额外的信号，并且是与现有电路兼容的电路结构，因此可以与常规设计的电路混合。此外，它表明，开发的电路功能可以扩展到检测的增加和减少的数据信号的延迟时间，它可以应用于信号延迟的校正。

项目成果

A Feasibility Study of Active Current Testing

有功电流测试的可行性研究

• 发表时间: 2009
• 期刊: Information Technology Letters
• 作者: 齊藤圭介;伊丸岡修哉;佐藤友暁;深瀬政秋;Yukiya Miura
• 通讯作者: Yukiya Miura

Dual Edge Triggered Flip-Flops for Noise Blocking and Application to Signal Delay Detection

用于噪声阻断的双边沿触发触发器及其在信号延迟检测中的应用

• 发表时间: 2012
• 期刊: Proc. 21st Asian Test Symposium
• 作者: Yoshihiro Ohkawa;Yukiya Miura(2)
• 通讯作者: Yukiya Miura(2)

Dependable Dual Edge Triggered Flip-Flops for Blocking Noise Signal

用于阻止噪声信号的可靠双边沿触发触发器

• 发表时间: 2011
• 期刊: Information Technology Letters
• 作者: Y.Zhang;K.Ootsu;T.Yokota;T.Baba;Yukiya Miura
• 通讯作者: Yukiya Miura

Dual Edge Triggered Flip-Flop for Noise Aware Design

用于噪声感知设计的双边沿触发触发器

• 发表时间: 2011
• 期刊: Proc. IEEE European Test Symposium
• 作者: 張漢明;野呂昌満;沢田篤史;吉田敦;蜂巣吉成;横森励士;Yukiya Miura
• 通讯作者: Yukiya Miura

デュアルエッジトリガフリップフロップの設計と信号遅延検知への応用

双边沿触发触发器设计及其在信号延迟检测中的应用

• 发表时间: 2012
• 作者: Takayuki Omori;Katsuhisa Maruyama;大川善大,三浦幸也
• 通讯作者: 大川善大,三浦幸也