Electron Scattering for Measurements of Charge Density Distributions of Short-Lived Nuclei
Electron Scattering for Measurements of Charge Density Distributions of Short-Lived Nuclei
用于测量短寿命原子核电荷密度分布的电子散射
批准号：
22224004
负责人：
Toshimi Suda
金额：
$129.96万
依托单位：
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (S)
财政年份：
2010
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2010-04-01 至 2016-03-31
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SCRIT グループ
斯瑞特集团
斯瑞特集团
DOI：
--
发表时间：
期刊：
影响因子：
--
作者：
[]
通讯作者：
Construction of the SCRIT Electron Scattering Facility at RIKEN RI Beam Factory
在RIKEN RI Beam工厂建设SCRIT电子散射设施
在RIKEN RI Beam工厂建设SCRIT电子散射设施
DOI：
--
发表时间：
期刊：
影响因子：
--
作者：
[徳井丞次, 牧野達治, 深尾京司, 宮川努, 荒井信幸, 新井園枝, 乾友彦, 川崎一泰, 児玉直美, 野口尚洋, 坂本治也, M. Wakasugi]
通讯作者：
M. Wakasugi
DOI：
10.1007/s12043-014-0865-8
发表时间：
2014
期刊：
Pramana Journal of Physics
影响因子：
--
作者：
[Toshimi Suda, Akitomo Enozokizono, Masahiro Hara, Yuji Haraguchi, Sin’ichi Ichikawa, Kazuyoshi Kurita, Saki Matsuo, Tetsuya Ohnishi, Tadaaki Tamae, Mamoru Togasaki,Kyo Tsukada,Teruaki Tsuru, Shuo Wang, Shunpei Yoneyama and Masanori Wakasugi, T. Suda]
通讯作者：
T. Suda
SCRIT法を用いたXe同位体標的における電子散乱のルミノシティ測定
使用 SCIT 方法测量 Xe 同位素靶中电子散射的光度
使用 SCIT 方法测量 Xe 同位素靶中电子散射的光度
DOI：
--
发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
--
作者：
[榎園昭智,塚田暁,市川進一,大西哲哉,栗田和好, 古小路裕樹 須田利美, 玉江忠明,水流輝明,戸ケ崎衛,原雅弘,堀利匡, 松田一衛,山田耕平,若杉昌徳,渡辺正満]
通讯作者：
松田一衛,山田耕平,若杉昌徳,渡辺正満
ヨハネスブルグ大学/iThemba 研究所(南アフリカ)
约翰内斯堡大学/iThemba 研究所（南非）
约翰内斯堡大学/iThemba 研究所（南非）
DOI：
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发表时间：
期刊：
影响因子：
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作者：
[]
通讯作者：
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