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Development of passive millimeter-wave microscopy
被动毫米波显微镜的发展
基本信息
- 批准号：22360162
- 负责人：
- 金额：$ 12.23万
- 依托单位：
- 依托单位国家：日本
- 项目类别：Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
- 财政年份：2010
- 资助国家：日本
- 起止时间：2010 至 2012
- 项目状态：已结题
- 来源：
- 关键词：
项目摘要
In this research project, passive millimeter-wave microscopy that enables imaging of the thermal radiation emitted from a sample with a spatial resolution below the diffraction limit is investigated to demonstrate the imaging capability of this microscopy format at low temperatures. This technique utilizes a sensitive radiometric receiver in combination with a scanning near-field microscope. Experiments performed at 50 GHz （wavelength: 6 mm) at various sample temperatures show that our passive millimeter-wave microscope system can successfully image thermal radiation even in the low temperature range where passive imaging systems in the infrared region are ineffective.
在本研究项目中，研究了被动毫米波显微镜，该显微镜能够以低于衍射极限的空间分辨率对样品发出的热辐射进行成像，以证明这种显微镜格式在低温下的成像能力。该技术利用灵敏的辐射接收器与扫描近场显微镜相结合。在50ghz（波长：6 mm）不同温度下进行的实验表明，即使在红外区域被动成像系统无效的低温范围内，我们的被动毫米波显微镜系统也可以成功地成像热辐射。
项目成果
期刊论文数量（0）
专著数量（0）
科研奖励数量（0）
会议论文数量（0）
专利数量（0）
Near-field thermal imaging by passive millimeter-wave microscopy
被动毫米波显微镜近场热成像
- DOI：
- 发表时间：2014
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：M. Ishino;S. Nakamura;and T. Nozokido
- 通讯作者：and T. Nozokido
Enhancing the Resolution of Millimeter-Wave Microscopy Using a Metal Slit-Type Probe
使用金属狭缝型探头提高毫米波显微镜的分辨率
- DOI：
- 发表时间：2010
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：N.Miyasaka;T.Nozokido
- 通讯作者：T.Nozokido
ミリ波帯パッシブマイクロスコピーによる熱放射の近接場イメージング
使用毫米波段无源显微镜对热辐射进行近场成像
- DOI：
- 发表时间：2012
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：石野学;吉田健太郎;莅戸立夫
- 通讯作者：莅戸立夫
MillimeterWave Active and Passive Microscopies
毫米波主动和被动显微镜
- DOI：
- 发表时间：2013
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：R. Kobayashi;T. Kawamura;N. Miki;and M.Sawahashi;【招待講演】T. Nozokido
- 通讯作者：【招待講演】T. Nozokido
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