Development of a new soft-ionization method of organic molecules on surfaces for imaging mass spectrometry

开发用于成像质谱分析的表面有机分子的新软电离方法

• 批准号: 22550091
• 负责人: FUJIWARA Yukio
• 金额: $ 3万
• 依托单位: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
• 财政年份: 2010
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2010 至 2012
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-22550091/
• 关键词: 表面分析; 質量分析; ソフトイオン化; 表面・界面物性; 分析科学; 放射線、Ｘ線、粒子線; 放射線、X線、粒子線

Secondary ion mass spectrometry (SIMS) is a powerful technique for characterizing surfaces. In the present study, we fabricated an apparatus for producing a beam of multiply-charged droplets that contain hydrogen and hydrocarbon, thereby investigating siz

二次离子质谱（西姆斯）是表征表面的一种强大技术。在本研究中，我们制作了一个装置，用于产生含有氢和碳氢化合物的多电荷液滴束，从而研究了尺寸

项目成果

Development of an ion beam source for Cluster SIMS using vacuum electrospray of an ionic liquid

使用离子液体真空电喷雾开发用于 Cluster SIMS 的离子束源

• 发表时间: 2011
• 作者: Yukio Fujiwara;Naoaki Saito;Hidehiko Nonaka;Shingo Ichimura;藤原幸雄;藤原幸雄
• 通讯作者: 藤原幸雄

Emission characteristics of a charged-droplet beam source using vacuum electrospray of an ionic liquid

使用离子液体真空电喷雾的带电液滴束源的发射特性

• DOI: 10.1002/sia.5071
• 发表时间: 2013
• 期刊: Surface and Interface Analysis
• 影响因子: 1.7
• 作者: Yukio Fujiwara;Naoaki Saito;Hidehiko Nonaka;Shingo Ichimura
• 通讯作者: Shingo Ichimura

Charged-droplet beam source using vacuum electrospray of an ionic liquid for secondary ion mass spectrometry (SIMS)

使用离子液体真空电喷雾进行二次离子质谱 (SIMS) 的带电液滴束源

• 发表时间: 2012
• 作者: Yukio Fujiwara;Naoaki Saito;Hidehiko Nonaka;Shingo Ichimura;藤原幸雄
• 通讯作者: 藤原幸雄

Application of an electrospray technique to Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)

电喷雾技术在二次离子质谱 (SIMS) 中的应用

• 发表时间: 2010
• 作者: Yukio Fujiwara;Naoaki Saito;Hidehiko Nonaka;Shingo Ichimura;藤原幸雄;藤原幸雄;藤原幸雄;藤原幸雄
• 通讯作者: 藤原幸雄