Study of novel low-dimensional surface structure showing metal-insulator transition

显示金属-绝缘体转变的新型低维表面结构的研究

• 批准号: 22740205
• 负责人: FUKAYA Yuki
• 金额: $ 2.75万
• 依托单位: Japan Atomic Energy Agency
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
• 财政年份: 2010
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2010 至 2012
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-22740205/
• 关键词: 表面・界面; 陽電子; 表面・界面物性; 陽電子回折; 表面構造; 反射高速陽電子回折

In this study, in order to elucidate the atomic structure of one-dimensional atomic wires on a crystal surface and its displacements due to the metal-insulator transition, the Pt/Ge(001) surface has been investigated by using reflection high-energy positron diffraction (RHEPD). By using the scanning tunneling microscopy (STM), we confirmed that defect-free and long-range ordered atomic wires are formed on the Pt/Ge(001) surface. By means of the rocking curve analyses based on the dynamical diffraction theory, we found that the experimental curve at room temperature can be well explained by considering the Ge dimer model expected by the theoretical calculations. We also found that below 90 K the Pt/Ge(111) surface undergoes the phase transition from the symmetric to asymmetric dimer structure.

本文利用反射高能正电子衍射（RHEPD）技术研究了Pt/Ge（001）表面的一维原子线结构及其在金属-绝缘体转变过程中的位移。利用扫描隧道显微镜（STM）证实了Pt/Ge（001）表面形成了无缺陷的长程有序原子线。通过基于动态衍射理论的摇摆曲线分析，我们发现，考虑到理论计算所期望的Ge二聚体模型，可以很好地解释室温下的实验曲线。我们还发现，在90 K以下，Pt/Ge（111）表面经历了从对称二聚体结构到非对称二聚体结构的相变。

项目成果

KEK低速陽電子実験施設における陽電子回折実験計画

KEK慢正电子实验装置的正电子衍射实验计划

• 发表时间: 2012
• 作者: 兵頭俊夫;深谷有喜; 高橋敏男;藤浪真紀;和田健;望月出海;河裾厚男;前川雅樹;白澤徹郎
• 通讯作者: 白澤徹郎

Surface plasmon excitation at topmost surface in reflection high-energy positron diffraction

反射高能正电子衍射中最表面等离子体激发

• 发表时间: 2010
• 期刊: e-J. Surf. Sci. Nanotech. 8
• 作者: Y. Fukaya;A. Kawasuso;A. Ichimiya
• 通讯作者: A. Ichimiya

反射高速陽電子回折による最表面構造に関する研究

利用反射快正电子衍射研究最外层表面结构

• 发表时间: 2011
• 作者: Y.Matsumoto;S.Sakai;S.Entani;Y.Takagi;T.Nakagawa;H.Naramoto;P.Avramov;T.Yokoyama;深谷有喜
• 通讯作者: 深谷有喜

Atomic scale investigations of topmost surface structures by using reflection high-energy positron diffraction

使用反射高能正电子衍射对最顶层表面结构进行原子尺度研究

• 发表时间: 2012
• 作者: Y. Fukaya;I. Matsuda;M. Maekawa;I. Mochizuki;K. Wada;T. Hyodo and A. Kawasuso
• 通讯作者: T. Hyodo and A. Kawasuso

Structure analysis of Si(111)-√21×√21-(Ag, Cs) surface by reflection high-energy positron diffraction

反射高能正电子衍射分析Si(111)-√21×√21-(Ag,Cs)表面结构

• DOI: 10.1016/j.susc.2012.07.039
• 发表时间: 2012
• 期刊: Surface Science
• 影响因子: 1.9
• 作者: Y. Fukaya;I. Matsuda;R. Yukawa;and A. Kawasuso
• 通讯作者: and A. Kawasuso