Development of scanning phase measurement electron microscopy and its application to the potential observation in battery

扫描相位测量电子显微镜的研制及其在电池电位观察中的应用

• 批准号: 23560031
• 负责人: TAKEGUCHI Masaki
• 金额: $ 3.41万
• 依托单位: National Institute for Materials Science
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
• 财政年份: 2011
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2011 至 2013
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-23560031/
• 关键词: 電子線ホログラフィー; 試料走査; 位相計測; Li電池

Stage-scanning phase measurement electron microscopy was developed. One-dimensional intensity profile along interference fringes was acquired on high-sensitive CCD camera by one time stage-scanning perpendicular to the fringe direction, followed by computer processing, resulting in the high-speed reconstruction of two-dimensional phase map. Likewise a fringe-scanning method, our technique enables to obtain a super-resolution phase map that spatial resolution is much smaller than the fringe spacing.

发展了台阶扫描相位测量电子显微镜。在高灵敏度CCD相机上，通过垂直于干涉条纹方向的一次级扫描获取干涉条纹的一维强度分布图，然后进行计算机处理，实现二维相位图的高速重建。与条纹扫描方法类似，我们的技术能够获得空间分辨率远小于条纹间距的超分辨率相位图。

项目成果

Development of sample-scanning electron holography

样品扫描电子全息术的发展

• 发表时间: 2011
• 作者: Masaki Takeguchi;Kazutaka Mitsuishi;Dan Lei,Masayuki Shimojo
• 通讯作者: Dan Lei,Masayuki Shimojo

Direct phase acquisition in electron holography with a stage-scanning system

使用载物台扫描系统进行电子全息直接相位采集

• 发表时间: 2012
• 作者: Dan Lei;三石和貴;原田研;下条雅幸;巨東英;竹口雅樹
• 通讯作者: 竹口雅樹

透過型電子顕微鏡及び電子線干渉法

透射电子显微镜和电子束干涉测量

• 发表时间: 2012

Direct acquisition of interferogram by stage scanning in electron interferometry.

电子干涉测量中通过阶段扫描直接获取干涉图。

• DOI: 10.1093/jmicro/dft032
• 发表时间: 2013
• 期刊: Microscopy
• 影响因子: 1.8
• 作者: Dan Lei;K. Mitsuishi;K. Harada;M. Shimojo;Dongying Ju;M. Takeguchi
• 通讯作者: M. Takeguchi

Super-resolution phase reconstruction in stage-scanning electron holography

阶段扫描电子全息术中的超分辨率相位重建

• 发表时间: 2013
• 作者: Dan Lei;三石和貴;原田研;下条雅幸;巨東英;竹口雅樹
• 通讯作者: 竹口雅樹