Conductance measurement at nanoscale using face to face dual tip Scanning Tunneling Microscopy

使用面对面双尖端扫描隧道显微镜进行纳米级电导测量

基本信息

  • 批准号:
    23760032
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 3万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
  • 财政年份:
    2011
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2011 至 2012
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

Using very sharp tip of Scanning Tunneling Microscopy, one can measure the electric conductance of small objects. However, in conventional set up, we can’t measure the conductance of nanoscale-objects, because of “geometric restriction”. In this investigation, we have demonstrated that such measurement is possible by using very flat or very thin samples.
使用非常尖端的扫描隧道显微镜,人们可以测量微小物体的电导。然而,在传统的测量装置中,由于“几何限制”,我们不能测量纳米级物体的电导。在这项研究中,我们已经证明了通过使用非常平或非常薄的样品来进行这种测量是可能的。

项目成果

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会议论文数量(0)
专利数量(0)
Admittance of Au/1,4-benzenedithiol/Au single-molecule junctions
Au/1,4-苯二硫醇/Au 单分子结的导纳
  • DOI:
    10.1063/1.4772642
  • 发表时间:
    2012
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    K. Yamauchi;S. Kurokawa;and A. Sakai
  • 通讯作者:
    and A. Sakai
Formation of the nanogap applicable for direct observation of single molecule junction
适用于直接观察单分子结的纳米间隙的形成
  • DOI:
  • 发表时间:
    2011
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Y. Ota;S. Kurokawa;and A. Sakai
  • 通讯作者:
    and A. Sakai
Ge 蒸着によってSi-SiO2 境界に形成されるナノギャップのSTM 観察II
Ge沉积在Si-SiO2边界形成纳米间隙的STM观察II
  • DOI:
  • 发表时间:
    2012
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    N. Fujita;M. Haruta;A. Ichinose;T. Maeda;S. Horii;黒川 修
  • 通讯作者:
    黒川 修
Ge 蒸着によって Si-SiO2 境界に形成されるナノギャップの STM 観察 II
Ge沉积在Si-SiO2边界形成纳米间隙的STM观察II
  • DOI:
  • 发表时间:
    2012
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    M. Haruta;K. Saura;N. Fujita;Y. Ogura;A. Ichinose;T. Maeda;S. Horii;吉原一輝;黒川 修,太田 靖,酒井 明
  • 通讯作者:
    黒川 修,太田 靖,酒井 明
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    $ 3万
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