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A novel technique to make nanogap with atomically flat electrodes
一种用原子级扁平电极制造纳米间隙的新技术
基本信息
- 批准号：19760023
- 负责人：
- 金额：$ 2.25万
- 依托单位：
- 依托单位国家：日本
- 项目类别：Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
- 财政年份：2007
- 资助国家：日本
- 起止时间：2007 至 2008
- 项目状态：已结题
- 来源：
- 关键词：
项目摘要
Silicon on insulator基板を使用することで,比較的簡便な方法でSPM(走査プローブ顕微鏡)観察に適したナノギャップを作成した.実際にギャップ部で電圧降下が起っていること,電極表面が1nm以下の平坦差に保たれていることを確かめた.
Silicon on insulator substrate is used in this way, and a simple method for comparison is SPM(walking mirror) inspection. The voltage drop of the electrode surface is reduced to 1nm or less, and the flatness difference is ensured.
项目成果
期刊论文数量（0）
专著数量（0）
科研奖励数量（0）
会议论文数量（0）
专利数量（0）
Electron transmission characteristics of Au/1,4- benzenedithiol/Au junctions
Au/1,4-苯二硫醇/Au结的电子传输特性
- DOI：
- 发表时间：2009
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：Horiguchi K;Tsutsui M;Kurokawa S;Sakai A
- 通讯作者：Sakai A
Conductance of Si nanowaires formed by breaking Si-Sijunctions
通过破坏Si-Si结形成的Si纳米线的电导
- DOI：
- 发表时间：2007
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：T. Iwanari;T. Sakata;Y. Miyatake;S. Kurokawa;A. Sakai
- 通讯作者：A. Sakai
A direct observation of nanosized contacts by STM
通过 STM 直接观察纳米级接触
- DOI：
- 发表时间：2007
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：K. Fujita;S. Kurokawa;A. Sakai
- 通讯作者：A. Sakai
走査プローブ顕微鏡(実験物理科学シリーズ6)
扫描探针显微镜（实验物理科学系列6）
- DOI：
- 发表时间：2009
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：K. Fujita;S. Kurokawa;A. Sakai;黒川 修(一部分担)
- 通讯作者：黒川 修(一部分担)
実験物理科学シリーズ6走査プローブ顕微鏡
实验物理科学系列6 扫描探针显微镜
- DOI：
- 发表时间：2009
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：K. Fujita;S. Kurokawa;A. Sakai;黒川 修(一部分担);黒川修(一部分担)
- 通讯作者：黒川修(一部分担)
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- 资助金额：
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