A novel technique to make nanogap with atomically flat electrodes
A novel technique to make nanogap with atomically flat electrodes
批准号:
19760023
负责人:
KUROKAWA Shu
金额:
$2.25万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
财政年份:
2007
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2007 至 2008
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英文摘要
Silicon on insulator基板を使用することで,比較的簡便な方法でSPM(走査プローブ顕微鏡)観察に適したナノギャップを作成した.実際にギャップ部で電圧降下が起っていること,電極表面が1nm以下の平坦差に保たれていることを確かめた.
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Electron transmission characteristics of Au/1,4- benzenedithiol/Au junctions
Au/1,4-苯二硫醇/Au结的电子传输特性
DOI:
--
发表时间:
2009
期刊:
NANOTECHNOLOGY 20
影响因子:
--
作者:
[Horiguchi K, Tsutsui M, Kurokawa S, Sakai A]
通讯作者:
Sakai A
Conductance of Si nanowaires formed by breaking Si-Sijunctions
通过破坏Si-Si结形成的Si纳米线的电导
DOI:
--
发表时间:
2007
期刊:
Journal of Applied Physics 102
影响因子:
--
作者:
[T. Iwanari, T. Sakata, Y. Miyatake, S. Kurokawa, A. Sakai]
通讯作者:
A. Sakai
A direct observation of nanosized contacts by STM
通过 STM 直接观察纳米级接触
DOI:
--
发表时间:
2007
期刊:
影响因子:
--
作者:
[K. Fujita, S. Kurokawa, A. Sakai]
通讯作者:
A. Sakai
走査プローブ顕微鏡(実験物理科学シリーズ6)
扫描探针显微镜(实验物理科学系列6)
DOI:
--
发表时间:
2009
期刊:
影响因子:
--
作者:
[K. Fujita, S. Kurokawa, A. Sakai, 黒川 修(一部分担)]
通讯作者:
黒川 修(一部分担)
実験物理科学シリーズ6走査プローブ顕微鏡
实验物理科学系列6 扫描探针显微镜
DOI:
--
发表时间:
2009
期刊:
影响因子:
--
作者:
[K. Fujita, S. Kurokawa, A. Sakai, 黒川 修(一部分担), 黒川修(一部分担)]
通讯作者:
黒川修(一部分担)
Conductance measurement at nanoscale using face to face dual tip Scanning Tunneling Microscopy
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批准号:23760032
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项目类别:Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
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资助金额:$3.0万
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财政年份:2011
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负责人:KUROKAWA Shu
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依托单位:
海外基金