Fast crystallization temperature of phase change materials in nano-second range and its application of multi-levels recording

纳秒级相变材料快速结晶温度及其多级记录应用

基本信息

  • 批准号:
    24360003
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 11.9万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
  • 财政年份:
    2012
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2012-04-01 至 2015-03-31
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

项目成果

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Reduction of Write Current in Phase-Change Memory by Incorporating Self-Assembled Nanostructures
通过结合自组装纳米结构来减少相变存储器中的写入电流
  • DOI:
  • 发表时间:
    2014
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Y. Yin;and S. Hosaka
  • 通讯作者:
    and S. Hosaka
Fast Operation and Freely Achievable Multiple Resistance Levels 1n Ge Te-Based Lateral Phase Change Memory
快速运行且可自由实现的多个电阻级别 1n Ge Te 基横向相变存储器
  • DOI:
  • 发表时间:
    2013
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Y. Yin;Y. Zhang;and S. Hosaka
  • 通讯作者:
    and S. Hosaka
N-doped GeTe Chalcogenide Film for High-Performance Nonvolatile Phase-Change Memory
用于高性能非易失性相变存储器的 N 掺杂 GeTe 硫族化物薄膜
  • DOI:
  • 发表时间:
    2014
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Y. Yin;and S. Hosaka
  • 通讯作者:
    and S. Hosaka
Ge1Sb4Te7 Ultra-Multi-Level Phase-Change Memory
Ge1Sb4Te7 超多级相变存储器
  • DOI:
  • 发表时间:
    2014
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Y. Yin;S. Iwashita;and S. Hosaka
  • 通讯作者:
    and S. Hosaka
Characterization of N-Doped GeTe Films and Their Applications to High-Performance Nano Phase-Change Memory
N掺杂GeTe薄膜的表征及其在高性能纳米相变存储器中的应用
  • DOI:
  • 发表时间:
    2014
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Y. Yin;and S. Hosaka
  • 通讯作者:
    and S. Hosaka
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    2024
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    2024
  • 资助金额:
    $ 11.9万
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    2024
  • 资助金额:
    $ 11.9万
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    2024
  • 资助金额:
    $ 11.9万
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    Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
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