Formation of GeSn layers by sputter epitaxy method
Formation of GeSn layers by sputter epitaxy method
批准号:
25820121
负责人:
TSUKAMOTO TAKAHIRO
金额:
$2.75万
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
财政年份:
2013
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2013-04-01 至 2015-03-31
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Effect of boron dopant of Si (001) substrates on growth of Ge layers using sputter epitaxy method
Si(001)衬底硼掺杂剂对溅射外延法生长Ge层的影响
DOI:
--
发表时间:
期刊:
影响因子:
--
作者:
[T. Tsukamoto, A. Kasamatsu, N. Hirose, T. Mimura, T. Matsui, Y. Suda]
通讯作者:
Y. Suda
GeSn薄膜形成におけるSn析出の挙動
GeSn 薄膜形成过程中 Sn 沉淀的行为
DOI:
--
发表时间:
2015
期刊:
影响因子:
--
作者:
[若林泰昂,江藤航,濵田勝幹, 安部泰史, 木原啓助, 川崎敏之, 坂井美穂, 塚本貴広,広瀬信光,笠松章史,三村高志,松井敏明,須田良幸]
通讯作者:
塚本貴広,広瀬信光,笠松章史,三村高志,松井敏明,須田良幸
DOI:
10.1063/1.4826501
发表时间:
2013-10
期刊:
Applied Physics Letters
影响因子:
4
作者:
[T. Tsukamoto;N. Hirose;A. Kasamatsu;T. Mimura;T. Matsui;Y. Suda]
通讯作者:
T. Tsukamoto;N. Hirose;A. Kasamatsu;T. Mimura;T. Matsui;Y. Suda
スパッタエピタキシー法を用いたSi直上へのGeSn薄膜の形成
采用溅射外延法直接在 Si 上形成 GeSn 薄膜
DOI:
--
发表时间:
2014
期刊:
影响因子:
--
作者:
[J. Shi, Y. Takagi, D. Anzai and J. Wang, 塚本貴広,広瀬信光,笠松章史,三村高志,松井敏明,須田良幸]
通讯作者:
塚本貴広,広瀬信光,笠松章史,三村高志,松井敏明,須田良幸
DOI:
10.1007/s10853-015-8990-4
发表时间:
2015-04
期刊:
Journal of Materials Science
影响因子:
4.5
作者:
[T. Tsukamoto;N. Hirose;A. Kasamatsu;T. Mimura;T. Matsui;Y. Suda]
通讯作者:
T. Tsukamoto;N. Hirose;A. Kasamatsu;T. Mimura;T. Matsui;Y. Suda
共 10 条
Development of high-frequency devices using GeSiSn/GeSn quantum wells
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批准号:19K04487
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项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
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资助金额:$2.83万
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财政年份:2019
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负责人:TSUKAMOTO TAKAHIRO
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依托单位:
Group-IV lattice-matched heterostructure and its application to high-frequency devices
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批准号:16K18076
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项目类别:Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
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资助金额:$2.66万
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财政年份:2016
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负责人:TSUKAMOTO TAKAHIRO
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依托单位:
海外基金