课题基金 / 基金详情

Formation of GeSn layers by sputter epitaxy method

Formation of GeSn layers by sputter epitaxy method
通过溅射外延法形成GeSn层
批准号:
25820121
负责人:
TSUKAMOTO TAKAHIRO
金额:
$2.75万
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
财政年份:
2013
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2013-04-01 至 2015-03-31

项目摘要

项目成果

TSUKAMOTO TAKAHIRO的其他基金

相似基金

相关文献

中文摘要
翻译
点击翻译按钮获取中文摘要
英文摘要
期刊论文(0)
专著(0)
科研奖励(0)
会议论文
Effect of boron dopant of Si (001) substrates on growth of Ge layers using sputter epitaxy method
Si(001)衬底硼掺杂剂对溅射外延法生长Ge层的影响
DOI: --
发表时间:
期刊:
影响因子: --
作者: [T. Tsukamoto, A. Kasamatsu, N. Hirose, T. Mimura, T. Matsui, Y. Suda]
通讯作者: Y. Suda
GeSn薄膜形成におけるSn析出の挙動
GeSn 薄膜形成过程中 Sn 沉淀的行为
DOI: --
发表时间: 2015
期刊:
影响因子: --
作者: [若林泰昂,江藤航,濵田勝幹, 安部泰史, 木原啓助, 川崎敏之, 坂井美穂, 塚本貴広,広瀬信光,笠松章史,三村高志,松井敏明,須田良幸]
通讯作者: 塚本貴広,広瀬信光,笠松章史,三村高志,松井敏明,須田良幸
DOI: 10.1063/1.4826501
发表时间: 2013-10
期刊: Applied Physics Letters
影响因子: 4
作者: [T. Tsukamoto;N. Hirose;A. Kasamatsu;T. Mimura;T. Matsui;Y. Suda]
通讯作者: T. Tsukamoto;N. Hirose;A. Kasamatsu;T. Mimura;T. Matsui;Y. Suda
スパッタエピタキシー法を用いたSi直上へのGeSn薄膜の形成
采用溅射外延法直接在 Si 上形成 GeSn 薄膜
DOI: --
发表时间: 2014
期刊:
影响因子: --
作者: [J. Shi, Y. Takagi, D. Anzai and J. Wang, 塚本貴広,広瀬信光,笠松章史,三村高志,松井敏明,須田良幸]
通讯作者: 塚本貴広,広瀬信光,笠松章史,三村高志,松井敏明,須田良幸
10
    Development of high-frequency devices using GeSiSn/GeSn quantum wells
    • 批准号:
      19K04487
    • 项目类别:
      Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
    • 资助金额:
      $2.83万
    • 财政年份:
      2019
    • 负责人:
      TSUKAMOTO TAKAHIRO
    • 依托单位:
    Group-IV lattice-matched heterostructure and its application to high-frequency devices
    海外基金