Characterization of nanowires and nanotubes with the low energy electron point source (LEEPS) microscope

使用低能电子点源 (LEEPS) 显微镜表征纳米线和纳米管

• 批准号: 5428834
• 负责人: Professor Dr. Armin Gölzhäuser
• 金额: --
• 依托单位: Arbeitsgruppe Physik Supramolekularer Systeme und Oberflächen
• 依托单位国家: 德国
• 项目类别: Priority Programmes
• 财政年份: 2004
• 资助国家: 德国
• 起止时间: 2003-12-31 至 2010-12-31
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/5428834?language=en
• 关键词: Characterization; nanowires; nanotubes; low; energy

The Low Energy Electron Point Source (LEEPS) microscope is a novel instrument for the characterization of structural, electrical and mechanical properties of single molecules and nanostructures. In the proposed project, we develop procedures to employ LEEPS as a tool for the characterization of structural, mechanical, electric and magnetic properties nanotubes and nanowires. As test object, we examine electrospun polymer nanowires and TUFT and WASTE polymer nanotubes provided by groups from the priority program (Greiner, Wehrspohn, Wendorff). The LEEPS microscope is utilized for holographic imaging to characterize the structure and electrostatic charge that is present on - adequately prepared - individual nanotubes and nanowires. The electrical conductance through individual tubes is measured with the point source as a movable electrode. The obtained I-V curves are then related to structural features that have been determined by imaging distinct individual tubes. Point source are capable of mechanical manipulation on individual tubes and it is intended to explore the characterization of elastic properties of individual tubes. Das LEEPS (Low Energy Electron Point Source) Mikroskop ist ein neuartiges Instrument zur Charakterisierung von einzelnen Molekülen und Nanostrukturen. In dem vorgeschlagenen Projekt soll LEEPS als Werkzeug zur Analyse struktureller, mechanischer, elektrischer und magnetischer Eigenschaften von Nanoröhrchen und Nanodrähten entwickelt werden. Als Modellsysteme untersuchen wir durch elektrospinning hergestellte Polymerdrähte, sowie mittels TUFT und WASTE präparierte Polymer Nanoröhrchen, die von Gruppen aus dem Schwerpunktsprogramm (Greiner, Wehrspohn, Wendorff) zur Verfügung gestellt werden. Das LEEPS Mikroskop wird zunächst zur Charakterisierung der Struktur und elektrostatischer Ladung von - geeignet präparierten - Nanoröhrchen und Nanodrähten eingesetzt. Die elektrische Leitung durch einzelne Röhrchen wird durch den Einsatz der Punktquelle als bewegliche Elektrode gemessen. Die dabei erhaltenen Strom-Spannungscharakteristiken werden in Beziehung zur Struktur der Röhrchen gesetzt. Zur Charakterisierung elastischer Eigenschaften einzelner Nanoröhrchen sollen auch mechanische Manipulationen an einzelnen Röhrchen - explorativ - untersucht werden.

低能电子点源显微镜（LEEPS）是一种用于表征单分子和纳米结构的结构、电学和力学性能的新型仪器。在提议的项目中，我们开发了使用LEEPS作为表征纳米管和纳米线的结构，机械，电气和磁性质的工具的程序。作为测试对象，我们检查了优先项目（Greiner, Wehrspohn, Wendorff）小组提供的电纺聚合物纳米线和TUFT和WASTE聚合物纳米管。LEEPS显微镜用于全息成像，以表征结构和静电电荷，存在于充分制备的单个纳米管和纳米线上。通过单个管的电导是用作为可移动电极的点源测量的。然后，获得的I-V曲线与通过成像不同的单个管确定的结构特征相关。点源能够对单个管进行机械操纵，旨在探讨单个管的弹性特性表征。Das LEEPS（低能电子点源）- microskop - in - neutiges仪器[j]。在dem vorgeschlagenenprojekt solleeps和Werkzeug zur分析结构，力学，电气和磁学特征schaften Nanoröhrchen和Nanodrähten entwickelweden。同样的模型系统研究了电纺丝技术的发展Polymerdrähte，一些mittels TUFT基金WASTE präparierte Polymer Nanoröhrchen， die von Gruppen aus dem Schwerpunktsprogramm (Greiner, Wehrspohn, Wendorff) zur verfgung gestellt werden。[1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1]德国德国德国德国德国德国德国德国德国德国德国德国德国德国德国德国德国德国德国[1][0][0][0][0]。[3]特性分析与弹性分析特征分析与弹性分析Nanoröhrchen力学操纵与弹性分析Röhrchen -探索性-非约束性研究。