Characterization of nanowires and nanotubes with the low energy electron point source (LEEPS) microscope

低能电子点源显微镜(LEEPS)是一种用于表征单分子和纳米结构的结构、电学和机械性质的新型仪器。在拟议的项目中，我们开发了使用LEEPS作为工具来表征纳米管和纳米线的结构、机械、电和磁性能的程序。作为测试对象，我们检查了优先计划小组(Greiner，Wehrsphn，Wdorff)提供的电纺聚合物纳米线和簇状和废旧聚合物纳米管。LEEPS显微镜用于全息成像，以表征充分制备的单个纳米管和纳米线上存在的结构和静电电荷。用点源作为移动电极，测量通过单个管子的电导。然后，将获得的I-V曲线与通过成像不同的单个管子确定的结构特征相关联。点源能够对单个管子进行机械操作，其目的是探索单个管子的弹性特性的表征。Das LEEPS(低能电子点源)Mikroskop是中性仪器zur Charakterisierung von Einzelnen Molekülen and Nanostrukturen。在DEM vorgeschlagenen Projekt soll LEEPS以及Werkzeug Zur中分析了结构、机械、电气和磁性材料的特征，包括纳米材料和纳米材料。ALS MODELSYSTSYSTEM UNTERSINE WIRESS WIRED ELECTING HERGERTE PERMERTE POLERTE，SOWIE MITTELS STUFT ANUT WARESPIERTE PLOGRMENT，DIE von Gruppen Aus Dem SchwerpenktsProgramm(Greiner，Wehrsphn，Wendorff)zur Verfügung Gegellt(Greiner，Wehrsphn，Wendorff)zur Verfügung Gegellt。Das LEEPS Mikroskop wird zunächst zur Charakterisierung der StrukTurn and Electric Characterisierung der Ladung von-Geeignet Präparierten-Nanoröhrchen and Nanodrähhhten eingesetzt.这是一件很重要的事情，我不想再做什么了。在别泽洪祖尔构造中发现了一种新的特征。这是一种很有弹性的机械操作机制，也是一种探索和实践。

The Low Energy Electron Point Source (LEEPS) microscope is a novel instrument for the characterization of structural, electrical and mechanical properties of single molecules and nanostructures. In the proposed project, we develop procedures to employ LEEPS as a tool for the characterization of structural, mechanical, electric and magnetic properties nanotubes and nanowires. As test object, we examine electrospun polymer nanowires and TUFT and WASTE polymer nanotubes provided by groups from the priority program (Greiner, Wehrspohn, Wendorff). The LEEPS microscope is utilized for holographic imaging to characterize the structure and electrostatic charge that is present on - adequately prepared - individual nanotubes and nanowires. The electrical conductance through individual tubes is measured with the point source as a movable electrode. The obtained I-V curves are then related to structural features that have been determined by imaging distinct individual tubes. Point source are capable of mechanical manipulation on individual tubes and it is intended to explore the characterization of elastic properties of individual tubes. Das LEEPS (Low Energy Electron Point Source) Mikroskop ist ein neuartiges Instrument zur Charakterisierung von einzelnen Molekülen und Nanostrukturen. In dem vorgeschlagenen Projekt soll LEEPS als Werkzeug zur Analyse struktureller, mechanischer, elektrischer und magnetischer Eigenschaften von Nanoröhrchen und Nanodrähten entwickelt werden. Als Modellsysteme untersuchen wir durch elektrospinning hergestellte Polymerdrähte, sowie mittels TUFT und WASTE präparierte Polymer Nanoröhrchen, die von Gruppen aus dem Schwerpunktsprogramm (Greiner, Wehrspohn, Wendorff) zur Verfügung gestellt werden. Das LEEPS Mikroskop wird zunächst zur Charakterisierung der Struktur und elektrostatischer Ladung von - geeignet präparierten - Nanoröhrchen und Nanodrähten eingesetzt. Die elektrische Leitung durch einzelne Röhrchen wird durch den Einsatz der Punktquelle als bewegliche Elektrode gemessen. Die dabei erhaltenen Strom-Spannungscharakteristiken werden in Beziehung zur Struktur der Röhrchen gesetzt. Zur Charakterisierung elastischer Eigenschaften einzelner Nanoröhrchen sollen auch mechanische Manipulationen an einzelnen Röhrchen - explorativ - untersucht werden.