Characterization of nanowires and nanotubes with the low energy electron point source (LEEPS) microscope

低能电子点源（LEEPS）显微镜是一种用于表征单分子和纳米结构的结构、电学和机械性能的新型仪器。在拟议的项目中，我们开发的程序，采用LEEPS作为工具的结构，机械，电和磁性能的表征纳米管和纳米线。作为测试对象，我们检查静电纺丝聚合物纳米线和TUFT和WASTE聚合物纳米管提供的组从优先程序（Greiner，Wehrspohn，Wendorff）。LEEPS显微镜用于全息成像，以表征结构和静电荷，这是目前-充分准备-个别纳米管和纳米线。用点源作为可移动电极测量通过各个管的电导。然后将获得的I-V曲线与通过对不同的单个管成像而确定的结构特征相关。点源能够对单个管进行机械操作，并且旨在探索单个管的弹性特性的表征。低能电子点源（LEEPS）是一种用于表征分子和纳米结构特性的新仪器。在LEEPS项目中，对纳米结构和纳米电极韦尔登的结构、机械、电和磁特性进行了分析。所有的模型系统都是通过电纺聚合物来实现的，其中包括由Schwerpunktsprogramm（Greiner，Wehrspohn，Wendorff）的Gruppen（Gruppen）生产的聚合物纳米管（Polymer韦尔登）。LEEPS Mikroskop将使结构特性和静电特性更好地体现在纳米级和纳米级的材料上。通过一个Röhrchen的电子线路将通过一个Punktquelle的接口连接到一个Elektrode gemessen。这一大跨度结构韦尔登在Röhrchen结构的基础上形成。纳米弹性体的弹性特征也可以通过机械操纵和韦尔登来实现。

The Low Energy Electron Point Source (LEEPS) microscope is a novel instrument for the characterization of structural, electrical and mechanical properties of single molecules and nanostructures. In the proposed project, we develop procedures to employ LEEPS as a tool for the characterization of structural, mechanical, electric and magnetic properties nanotubes and nanowires. As test object, we examine electrospun polymer nanowires and TUFT and WASTE polymer nanotubes provided by groups from the priority program (Greiner, Wehrspohn, Wendorff). The LEEPS microscope is utilized for holographic imaging to characterize the structure and electrostatic charge that is present on - adequately prepared - individual nanotubes and nanowires. The electrical conductance through individual tubes is measured with the point source as a movable electrode. The obtained I-V curves are then related to structural features that have been determined by imaging distinct individual tubes. Point source are capable of mechanical manipulation on individual tubes and it is intended to explore the characterization of elastic properties of individual tubes. Das LEEPS (Low Energy Electron Point Source) Mikroskop ist ein neuartiges Instrument zur Charakterisierung von einzelnen Molekülen und Nanostrukturen. In dem vorgeschlagenen Projekt soll LEEPS als Werkzeug zur Analyse struktureller, mechanischer, elektrischer und magnetischer Eigenschaften von Nanoröhrchen und Nanodrähten entwickelt werden. Als Modellsysteme untersuchen wir durch elektrospinning hergestellte Polymerdrähte, sowie mittels TUFT und WASTE präparierte Polymer Nanoröhrchen, die von Gruppen aus dem Schwerpunktsprogramm (Greiner, Wehrspohn, Wendorff) zur Verfügung gestellt werden. Das LEEPS Mikroskop wird zunächst zur Charakterisierung der Struktur und elektrostatischer Ladung von - geeignet präparierten - Nanoröhrchen und Nanodrähten eingesetzt. Die elektrische Leitung durch einzelne Röhrchen wird durch den Einsatz der Punktquelle als bewegliche Elektrode gemessen. Die dabei erhaltenen Strom-Spannungscharakteristiken werden in Beziehung zur Struktur der Röhrchen gesetzt. Zur Charakterisierung elastischer Eigenschaften einzelner Nanoröhrchen sollen auch mechanische Manipulationen an einzelnen Röhrchen - explorativ - untersucht werden.