Studies on Non-Scan based Synthesis for Testability and Test Generation from High-Level Design for LSIs
Studies on Non-Scan based Synthesis for Testability and Test Generation from High-Level Design for LSIs
基于非扫描的 LSI 高级设计可测试性综合和测试生成研究
批准号：
26330071
负责人：
HOSOKAWA Toshinori
金额：
$3.0万
依托单位：
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
财政年份：
2014
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2014-04-01 至 2017-03-31
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A Diagnostic Fault Simulation Method for a Single Universal Logical Fault Model
单一通用逻辑故障模型的诊断故障仿真方法
单一通用逻辑故障模型的诊断故障仿真方法
DOI：
--
发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Toshinori Hosokawa, Hideyuki Takano, Hiroshi Yamazaki, and Koji Yamazaki]
通讯作者：
and Koji Yamazaki
Studies of High Level Design Aware Test Generation at Gate Level
门级高级设计感知测试生成的研究
门级高级设计感知测试生成的研究
DOI：
--
发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Mamoru Sato, Tetsuya Masuda, Jun Nishimaki, Toshinori Hosokawa and Hideo Fujiwara, Toshinori Hosokawa]
通讯作者：
Toshinori Hosokawa
低消費電力指向マルチサイクルキャプチャテスト生成における時間展開数の評価
面向低功耗的多周期捕获测试生成中时间扩展次数的评估
面向低功耗的多周期捕获测试生成中时间扩展次数的评估
DOI：
--
发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Jun Nishimaki, Toshinori Hosokawa, and Hideo Fujiwara, 大崎直也・細川利典・山崎紘史・吉村正義, 高野秀之・細川利典・山崎紘史・山崎浩二, 日下部建斗・平井淳士・細川利典・山崎紘史・新井雅之, 山崎紘史・西間木淳・細川利典・吉村正義]
通讯作者：
山崎紘史・西間木淳・細川利典・吉村正義
静的テスト圧縮のための多重目標故障テスト生成を用いたMバイNアルゴリズム
用于静态测试压缩的具有多目标故障测试生成的 M-by-N 算法
用于静态测试压缩的具有多目标故障测试生成的 M-by-N 算法
DOI：
--
发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Jun Nishimaki, Toshinori Hosokawa, and Hideo Fujiwara, 大崎直也・細川利典・山崎紘史・吉村正義, 高野秀之・細川利典・山崎紘史・山崎浩二, 日下部建斗・平井淳士・細川利典・山崎紘史・新井雅之, 山崎紘史・西間木淳・細川利典・吉村正義, 佐藤護・増田哲也・西間木淳・細川利典・藤原秀雄, 原 侑也・山崎紘史・細川利典・吉村正義]
通讯作者：
原 侑也・山崎紘史・細川利典・吉村正義
A Fault Diagnosis Method for a Single Universal Logical Fault Model Using Multi Cycle CaptureTest Sets
一种基于多周期捕获测试装置的单一通用逻辑故障模型的故障诊断方法
一种基于多周期捕获测试装置的单一通用逻辑故障模型的故障诊断方法
DOI：
--
发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Hideyuki Takano, Hiroshi Yamazaki, Toshinori Hosokawa, Koji Yamazaki]
通讯作者：
Koji Yamazaki
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