Studies on Non-Scan based Synthesis for Testability and Test Generation from High-Level Design for LSIs

基于非扫描的 LSI 高级设计可测试性综合和测试生成研究

• 批准号: 26330071
• 负责人: HOSOKAWA Toshinori
• 金额: $ 3万
• 依托单位: Nihon University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
• 财政年份: 2014
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2014-04-01 至 2017-03-31
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-26330071/
• 关键词: 動作合成; テスト生成; 低消費電力; トロイ検出; テスト容易化合成; テスト環境生成; マルチサイクルキャプチャテスト; 故障診断; 高位合成; テスト容易化バインディング; テスト容易化スケジューリング; テスト容易化機能的時間展開モデル; 低消費電力指向テスト圧縮; テストポイント挿入; コントローラ拡大; 階層テスト生成; テスト容易化機能的時間展開モデル生成; 低消費電力指向テスト生成; マルチサイクルキャプチャテスト生成

项目成果

A Diagnostic Fault Simulation Method for a Single Universal Logical Fault Model

单一通用逻辑故障模型的诊断故障仿真方法

• 发表时间: 2017
• 作者: Toshinori Hosokawa;Hideyuki Takano;Hiroshi Yamazaki;and Koji Yamazaki
• 通讯作者: and Koji Yamazaki

Studies of High Level Design Aware Test Generation at Gate Level

门级高级设计感知测试生成的研究

• 发表时间: 2016
• 作者: Mamoru Sato;Tetsuya Masuda;Jun Nishimaki;Toshinori Hosokawa and Hideo Fujiwara;Toshinori Hosokawa
• 通讯作者: Toshinori Hosokawa

低消費電力指向マルチサイクルキャプチャテスト生成における時間展開数の評価

面向低功耗的多周期捕获测试生成中时间扩展次数的评估

• 发表时间: 2016
• 作者: Jun Nishimaki;Toshinori Hosokawa;and Hideo Fujiwara;大崎直也・細川利典・山崎紘史・吉村正義;高野秀之・細川利典・山崎紘史・山崎浩二;日下部建斗・平井淳士・細川利典・山崎紘史・新井雅之;山崎紘史・西間木淳・細川利典・吉村正義
• 通讯作者: 山崎紘史・西間木淳・細川利典・吉村正義

静的テスト圧縮のための多重目標故障テスト生成を用いたMバイNアルゴリズム

用于静态测试压缩的具有多目标故障测试生成的 M-by-N 算法

• 发表时间: 2015
• 作者: Jun Nishimaki;Toshinori Hosokawa;and Hideo Fujiwara;大崎直也・細川利典・山崎紘史・吉村正義;高野秀之・細川利典・山崎紘史・山崎浩二;日下部建斗・平井淳士・細川利典・山崎紘史・新井雅之;山崎紘史・西間木淳・細川利典・吉村正義;佐藤護・増田哲也・西間木淳・細川利典・藤原秀雄;原 侑也・山崎紘史・細川利典・吉村正義
• 通讯作者: 原 侑也・山崎紘史・細川利典・吉村正義

A Fault Diagnosis Method for a Single Universal Logical Fault Model Using Multi Cycle CaptureTest Sets

一种基于多周期捕获测试装置的单一通用逻辑故障模型的故障诊断方法

• 发表时间: 2015
• 作者: Hideyuki Takano;Hiroshi Yamazaki;Toshinori Hosokawa;Koji Yamazaki
• 通讯作者: Koji Yamazaki