ULSI時代の高機能テスト生成システムの開発

ULSI时代高性能测试生成系统的开发

• 批准号: 11780234
• 负责人: 梶原 誠司
• 金额: $ 1.54万
• 依托单位: Kyushu Institute of Technology
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
• 财政年份: 1999
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 1999 至 2000
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-11780234/
• 关键词: テストパターン生成; 論理回路; VLSI; 故障検査; 遅延故障; 縮退故障; VLSI CAD; テスト生成; 故障シミュレーション; フォールトトレランス; テスト圧縮

本年度は,昨年度開発したテスト生成アルゴリズムを基本とした,パス遅延故障を検出するためのテスト生成システムを開発した.パス遅延故障モデルは高性能なVLSIのテストに有効であることが知られている.その一方で,回路中のテスト対象となるパス数が多くなること,さらに,テスト不能なパスが存在することが,テスト生成を困難にする大きな理由となっていた.本年度の研究では,テスト不能パス解析を伴う最長パスの選択アルゴリズムを考案し,高い故障検出率をもたらすテスト生成システムを開発した.本システムでは,まず,活性化できる可能性が高く回路のすべての信号線を被覆するパスの集合を抽出する.パス選択の基準は,(1)テスト不能パス解析において,テスト不能と判定されていないこと.(2)回路内の各信号線について,その信号線を含むテスト可能な最長パスであること.の2つの条件を同時に満たすことである.次に,選択したパスに対して,テスト生成を行う.テスト生成の対象となるパス数を10万本程度まで絞り込むことができるため,テスト生成は現実的に対処可能な時間内に終了する.また,選択したパスはテスト不能である割合が小さく,生成されたテストパターンの故障検出率も非常に高いものとなる.ISCAS-85,およびISCAS-89のベンチマーク回路に対する実験では,選択したパスのテスト生成により平均97%の信号線について,テスト可能な最長パスのテスト生成を行うことができた.テスト不能パス解析を含まないテスト生成では平均68%の信号線の最長パスしかテスト生成できないため,本システムはテストパターンの高品質かに大きく貢献することができるといえる.

は this year, yesterday's annual open 発 し た テ ス ト generated ア ル ゴ リ ズ ム を basic と し た, パ ス 遅 delay fault を 検 out す る た め の テ ス ト generated シ ス テ ム を open 発 し た. パ ス 遅 delay fault モ デ ル は high-performance な VLSI の テ ス ト に have sharper で あ る こ と が know ら れ て い る. そ の で a party, the loop の テ ス ト like と seaborne な る パ ス が much く な る こ と, さ ら に, テ ス ト cannot な パ ス が exist す る こ と が, テ ス ト generated を difficult に す る big き な reason と な っ て い た. This annual の study で は, テ ス ト cannot パ ス parsing を with longest う パ ス の sentaku ア ル ゴ リ ズ ム し を test case, high fault 検 い rate を も た ら す テ ス ト generated シ ス テ ム を open 発 し た. This シ ス テ ム で は, ま ず, activeness で き likely が る く loop の す べ て の を coating line す る パ ス の collection を spare す る. パ ス sentaku の benchmark は, (1) テ ス ト cannot パ ス parsing に お い て, テ ス ト cannot と determine さ れ て い な い こ と. (2) within the loop の each signal wire に つ い て, そ の signal を containing む テ ス ト can It can な at the longest パスである と と と. <s:1> 2 <s:1> conditions を simultaneously に are satisfied with たす とである とである. に, sentaku し た パ ス に し seaborne て, テ ス ト generated を う. テ ス ト generated の like と seaborne な る パ ス を 100000 this degree ま で ground り 込 む こ と が で き る た め, テ ス ト generated は presently be に 処 seaborne can に な time end す る. ま た, sentaku し た パ ス は テ ス ト cannot で あ る cut close が small さ く, generate さ れ た テ ス ト パ タ ー ン の fault も 検 rate very high に い も の と な る. ISCAS - 85, お よ び ISCAS - 89 の ベ ン チ マ ー ク loop に す seaborne る be 験 で は, sentaku し た パ ス の テ ス ト generated に よ り average 97% の signal に つ い て, テ ス ト may な longest パ ス の テ ス ト generated line を う こ と が で き た. テ ス ト cannot パ ス parsing を containing ま な い テ ス ト generated で は average 68% の signal の longest パ ス し か テ ス ト generated で き な い た め, this シ ス テ ム は テ ス ト パ タ ー ン の high-quality か に big き く contribution す る こ と が で き る と い え る.

项目成果

Atsushi Murakami: "Selection of Potentially Testable Path Delay Faults for Test Generation"IEEE International Test Conference. 376-384 (2000)

Atsushi Murakami：“选择用于测试生成的潜在可测试路径延迟故障”IEEE 国际测试会议。

梶原誠司: "最小テスト集合でテスト可能な加算器について"情報処理学会論文誌. 採録決定. (2001)

Seiji Kajiwara：“关于可以用最小测试集进行测试的加法器”，日本信息处理协会验收决定（2001）。

梶原誠司,金子智寿,村上敦: "ベクトルペア解析による多重縮退故障のテスト圧縮について"情報処理学会DAシンポジウム'99論文集. 255-260 (1999)

Seiji Kajiwara、Tomohisa Kaneko、Atsushi Murakami：“使用向量对分析对多个卡住故障进行测试压缩”，日本信息处理协会 DA 研讨会 99 论文集，255-260 (1999)。

梶原誠司,樹下行三,イリス・ポメランツ,スダーカMレディ: "論理回路における遅延テスト不要パスの高速導出法"電子情報通信学会論文誌D-I. Vol.J-82-D-1,No.7. 888-896 (1999)

Seiji Kajiwara、Yukizo Kishita、Iris Pomerantz、M Reddy Sudhaka：“逻辑电路中免延迟测试路径的快速推导方法”IEICE Transactions D-I，第 J-82-D-1 卷，第 888-896 期。 ）

S.Kajihara,A.Murakami,T.Kaneko: "On Compact Test Sets for Multiple Struck at Faults in Large Circuits"Proceedings of 8th IEEE Asian Test Symposium. 20-24 (1999)

S.Kajihara、A.Murakami、T.Kaneko：“大型电路中多重故障的紧凑测试装置”第八届 IEEE 亚洲测试研讨会论文集。