Study on strain fields and surface reconstructions of GaN crystals which have microstructure in mesoscopic scale.
Study on strain fields and surface reconstructions of GaN crystals which have microstructure in mesoscopic scale.
介观尺度微观结构GaN晶体的应变场和表面重构研究。
批准号：
15K04667
负责人：
Akimoto Koichi
金额：
$3.08万
依托单位：
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
财政年份：
2015
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2015-04-01 至 2018-03-31
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DOI：
--
发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Mizuki Shoro, Yuko Kitano, Satoko Miyakawa, Koichi Akimoto, Koichi Akimoto and Fumie Nishikawa]
通讯作者：
Koichi Akimoto and Fumie Nishikawa
Characterization of GaN Crystals with X-ray topography
用 X 射线形貌表征 GaN 晶体
用 X 射线形貌表征 GaN 晶体
DOI：
--
发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Yuko Kitano, Satoko Miyakawa, Mizuki Shoro, Koichi Akimoto]
通讯作者：
Koichi Akimoto
Characterization of GaN crystals with the X-ray topography
用 X 射线形貌表征 GaN 晶体
用 X 射线形貌表征 GaN 晶体
DOI：
--
发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Yuko Kitano, Mizuki Shoro, Satoko Miyakawa, Koichi Akimoto]
通讯作者：
Koichi Akimoto
FWHM Images of the Rocking Curves by X-Ray Topography
X 射线地形图的摇摆曲线 FWHM 图像
X 射线地形图的摇摆曲线 FWHM 图像
DOI：
--
发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Mizuki Shoro, Yuko Kitano, Satoko Miyakawa, Koichi Akimoto]
通讯作者：
Koichi Akimoto
X線トポグラフ法によるGaN結晶の断面試料の評価(2)
使用X射线形貌法评估GaN晶体的横截面样品（2）
使用X射线形貌法评估GaN晶体的横截面样品（2）
DOI：
--
发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
--
作者：
[北野祐子, 宮川理子, 井上絵美子, 秋本晃一]
通讯作者：
秋本晃一
共 6 条
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