Study on strain fields and surface reconstructions of GaN crystals which have microstructure in mesoscopic scale.
介观尺度微观结构GaN晶体的应变场和表面重构研究。
基本信息
- 批准号:15K04667
- 负责人:
- 金额:$ 3.08万
- 依托单位:
- 依托单位国家:日本
- 项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
- 财政年份:2015
- 资助国家:日本
- 起止时间:2015-04-01 至 2018-03-31
- 项目状态:已结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
项目成果
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专利数量(0)
Structure and Strain of Hafnium Oxide Thin Films Studied by X-Ray Diffraction
X射线衍射研究氧化铪薄膜的结构和应变
- DOI:
- 发表时间:2017
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:Mizuki Shoro;Yuko Kitano;Satoko Miyakawa;Koichi Akimoto;Koichi Akimoto and Fumie Nishikawa
- 通讯作者:Koichi Akimoto and Fumie Nishikawa
Characterization of GaN Crystals with X-ray topography
用 X 射线形貌表征 GaN 晶体
- DOI:
- 发表时间:2017
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:Yuko Kitano;Satoko Miyakawa;Mizuki Shoro;Koichi Akimoto
- 通讯作者:Koichi Akimoto
Characterization of GaN crystals with the X-ray topography
用 X 射线形貌表征 GaN 晶体
- DOI:
- 发表时间:2017
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:Yuko Kitano;Mizuki Shoro;Satoko Miyakawa;Koichi Akimoto
- 通讯作者:Koichi Akimoto
FWHM Images of the Rocking Curves by X-Ray Topography
X 射线地形图的摇摆曲线 FWHM 图像
- DOI:
- 发表时间:2017
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:Mizuki Shoro;Yuko Kitano;Satoko Miyakawa;Koichi Akimoto
- 通讯作者:Koichi Akimoto
X線トポグラフ法によるGaN結晶の断面試料の評価(2)
使用X射线形貌法评估GaN晶体的横截面样品(2)
- DOI:
- 发表时间:2016
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:北野祐子;宮川理子;井上絵美子;秋本晃一
- 通讯作者:秋本晃一
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