Study on strain fields and surface reconstructions of GaN crystals which have microstructure in mesoscopic scale.

介观尺度微观结构GaN晶体的应变场和表面重构研究。

基本信息

  • 批准号:
    15K04667
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 3.08万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
  • 财政年份:
    2015
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2015-04-01 至 2018-03-31
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

项目成果

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会议论文数量(0)
专利数量(0)
Structure and Strain of Hafnium Oxide Thin Films Studied by X-Ray Diffraction
X射线衍射研究氧化铪薄膜的结构和应变
  • DOI:
  • 发表时间:
    2017
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Mizuki Shoro;Yuko Kitano;Satoko Miyakawa;Koichi Akimoto;Koichi Akimoto and Fumie Nishikawa
  • 通讯作者:
    Koichi Akimoto and Fumie Nishikawa
Characterization of GaN Crystals with X-ray topography
用 X 射线形貌表征 GaN 晶体
  • DOI:
  • 发表时间:
    2017
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Yuko Kitano;Satoko Miyakawa;Mizuki Shoro;Koichi Akimoto
  • 通讯作者:
    Koichi Akimoto
Characterization of GaN crystals with the X-ray topography
用 X 射线形貌表征 GaN 晶体
  • DOI:
  • 发表时间:
    2017
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Yuko Kitano;Mizuki Shoro;Satoko Miyakawa;Koichi Akimoto
  • 通讯作者:
    Koichi Akimoto
FWHM Images of the Rocking Curves by X-Ray Topography
X 射线地形图的摇摆曲线 FWHM 图像
  • DOI:
  • 发表时间:
    2017
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Mizuki Shoro;Yuko Kitano;Satoko Miyakawa;Koichi Akimoto
  • 通讯作者:
    Koichi Akimoto
X線トポグラフ法によるGaN結晶の断面試料の評価(2)
使用X射线形貌法评估GaN晶体的横截面样品(2)
  • DOI:
  • 发表时间:
    2016
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    北野祐子;宮川理子;井上絵美子;秋本晃一
  • 通讯作者:
    秋本晃一
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Akimoto Koichi其他文献

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