窒化ガリウムMOSデバイスにおけるキャリア散乱機構の研究
氮化镓MOS器件载流子散射机制研究
基本信息
- 批准号:23K13367
- 负责人:
- 金额:$ 3万
- 依托单位:
- 依托单位国家:日本
- 项目类别:Grant-in-Aid for Early-Career Scientists
- 财政年份:2023
- 资助国家:日本
- 起止时间:2023-04-01 至 2025-03-31
- 项目状态:未结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
项目成果
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小林 拓真其他文献
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环糊精多孔配位聚合物制备立方凝胶
- DOI:
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- 影响因子:0
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古川雄基・石渡拓己・杉川幸太・小門憲太・佐田和己
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- 发表时间:
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- 影响因子:0
- 作者:
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渡部 平司
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SiO2沉积后结合氢刻蚀和氮化处理形成高质量4H-SiC/SiO2界面
- DOI:
- 发表时间:
2021 - 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:
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木本 恒暢
ピンクノイズ様の微弱電気ノイズ刺激が立位中の姿勢制御則に与える影響
类粉红噪声弱电噪声刺激对站立姿势控制规律的影响
- DOI:
- 发表时间:
2023 - 期刊:
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- 作者:
山縣 桃子;小林 拓真;前角 馨;田上 涼太;清水 海成;木村 哲也 - 通讯作者:
木村 哲也
NO 窒化 SiO2/SiC(11-20) 界面へのエキシマ紫外光照射の影響
准分子紫外光照射对NO氮化物SiO2/SiC(11-20)界面的影响
- DOI:
- 发表时间:
2022 - 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:
藤本 博貴;小林 拓真;染谷 満;岡本 光央;志村 考功;渡部 平司 - 通讯作者:
渡部 平司
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