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Origin elucidation of the problems in the interface electric charge transportation phenomenon using scanning nonlinear dielectric microscopy

Origin elucidation of the problems in the interface electric charge transportation phenomenon using scanning nonlinear dielectric microscopy
使用扫描非线性介电显微镜阐明界面电荷传输现象问题的根源
批准号：
16H06360
负责人：
Cho Yasuo
金额：
$124.55万
依托单位：
Tohoku University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (S)
财政年份：
2016
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2016-05-31 至 2021-03-31
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-16H06360/
关键词：
走査型非線形誘電率顕微鏡局所DLTS法MOS界面欠陥時間分解走査型非線形誘電率顕微鏡界面準位密度移動度ワイドギャップ半導体パワーデバイス界面順位密度MOS界面次世代パワー半導体界面電荷輸送現象超高次非線形誘電率顕微鏡法時間分解SNDM法走査型非線形誘電率顕微鏡法超高次SNDM法時間分解SNDMDit分布観測超高次非線形誘電率顕微鏡 法走査型非線形誘電率ポテン ショメリ

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Scanning probe-type data storage beyond hard disk drive and flash memory
DOI： 10.1557/mrs.2018.98
发表时间： 2018-05
期刊： MRS Bulletin
影响因子： 5
作者： [Yasuo Cho;Seungbum Hong]
通讯作者： Yasuo Cho;Seungbum Hong
High resolution characterizations of fine structure of electric devices and materials using scanning nonlinear dielectric microscopy
使用扫描非线性介电显微镜对电子器件和材料的精细结构进行高分辨率表征
DOI： --
发表时间： 2019
期刊：
影响因子： --
作者： [Ogino Yukiko, Sakamoto Hirotaka, Watanabe Eiji, Ansai Satoshi, Naruse Kiyoshi, Iguchi Taisen, Yasuo Cho]
通讯作者： Yasuo Cho
Quantitative measurement of active dopant density distribution in textured emitter of phosphorus-implanted monocrystalline silicon solar cell using scanning nonlinear dielectric microscopy
使用扫描非线性介电显微镜定量测量磷注入单晶硅太阳能电池织构发射极中的活性掺杂剂密度分布
DOI： --
发表时间： 2018
期刊：
影响因子： --
作者： [Kotaro Hirose, Katsuto Tanahashi, Hidetaka Takato, and Yasuo Cho]
通讯作者： and Yasuo Cho
Nanoscale Permittivity Imaging Using ∂C/∂z-mode Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy
使用 ∂C/∂z 模式扫描非线性介电显微镜进行纳米级介电常数成像
DOI： --
发表时间： 2018
期刊：
影响因子： --
作者： [T. Goto, S. Matsuyama, H. Nakamori, H. Hayashi, T. Kimura, K. P. Khakurel, Y. Kohmura, Y. Sano, M. Yabashi, T. Ishikawa, Y. Nishino, and K. Yamauchi, Y. Hiranaga and Y. Cho]
通讯作者： Y. Hiranaga and Y. Cho
共 131 条
    Elucidation of atomic structure and dynamics of carrier trap sites
    • 批准号：
      21K18706
    • 项目类别：
      Grant-in-Aid for Challenging Research (Exploratory)
    • 资助金额：
      $4.08万
    • 财政年份：
      2021
    • 负责人：
      Cho Yasuo
    • 依托单位：
      Tohoku University
    High functionalization of nonlinear dielectric microscopy and its application to electronic devices
    • 批准号：
      23226008
    • 项目类别：
      Grant-in-Aid for Scientific Research (S)
    • 资助金额：
      $134.62万
    • 财政年份：
      2011
    • 负责人：
      Cho Yasuo
    • 依托单位：
      Tohoku University