Origin elucidation of the problems in the interface electric charge transportation phenomenon using scanning nonlinear dielectric microscopy

使用扫描非线性介电显微镜阐明界面电荷传输现象问题的根源

• 批准号: 16H06360
• 负责人: Cho Yasuo
• 金额: $ 124.55万
• 依托单位: Tohoku University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (S)
• 财政年份: 2016
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2016-05-31 至 2021-03-31
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-16H06360/
• 关键词: 走査型非線形誘電率顕微鏡; 局所DLTS法; MOS界面欠陥; 時間分解走査型非線形誘電率顕微鏡; 界面準位密度; 移動度; ワイドギャップ半導体; パワーデバイス; 界面順位密度; MOS界面; 次世代パワー半導体; 界面電荷輸送現象; 超高次非線形誘電率顕微鏡法; 時間分解SNDM法; 走査型非線形誘電率顕微鏡法; 超高次SNDM法; 時間分解SNDM; Dit分布観測; 超高次非線形誘電率顕微鏡 法; 走査型非線形誘電率ポテン ショメリ

项目成果

Scanning probe-type data storage beyond hard disk drive and flash memory

• DOI: 10.1557/mrs.2018.98
• 发表时间: 2018-05
• 期刊: MRS Bulletin
• 影响因子: 5
• 作者: Yasuo Cho;Seungbum Hong

Improvement of Signal-to-Noise Ratio in Carrier Distribution Imaging in Intermittent Contact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy Based on Boxcar Integration

基于Boxcar积分的间歇接触扫描非线性介电显微镜中载流子分布成像信噪比的提高

• 发表时间: 2019
• 作者: S. Matsuyama;J. Yamada;S. Yasuda;Y. Kohmura;H. Okadam;Y. Sano;M. Yabashi;T. Ishikawa;and K. Yamauchi;Kohei Yamasue and Yasuo Cho
• 通讯作者: Kohei Yamasue and Yasuo Cho

Boxcar averaging based scanning nonlinear dielectric microscopy and its application to carrier distribution imaging on 2D semiconductors

基于 Boxcar 平均的扫描非线性介电显微镜及其在二维半导体载流子分布成像中的应用

• 发表时间: 2019
• 作者: Kohei Yamasue;Yasuo Cho
• 通讯作者: Yasuo Cho

High resolution characterizations of fine structure of electric devices and materials using scanning nonlinear dielectric microscopy

使用扫描非线性介电显微镜对电子器件和材料的精细结构进行高分辨率表征

• 发表时间: 2019
• 作者: Ogino Yukiko;Sakamoto Hirotaka;Watanabe Eiji;Ansai Satoshi;Naruse Kiyoshi;Iguchi Taisen;Yasuo Cho
• 通讯作者: Yasuo Cho

Measurement Method of Multi-layer Piezoelectric Polarity-inverted Structure Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy

多层压电极性反转结构的扫描非线性介电显微镜测量方法

• 发表时间: 2017
• 作者: H. Odagawa;Y. Tanaka;T. Yanagitani;and Y. Cho
• 通讯作者: and Y. Cho