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Microscopie Investigation of Noise in SiGe Heterojunction Bipolar Transistors for Compact Medeling

Microscopie Investigation of Noise in SiGe Heterojunction Bipolar Transistors for Compact Medeling
用于紧凑型 Medeling 的 SiGe 异质结双极晶体管中噪声的显微镜研究
批准号：
5445774
负责人：
Professor Dr.-Ing. Christoph Jungemann
金额：
$0.0万
依托单位：
Institut für Theoretische Elektrotechnik (ITHE)
依托单位国家：
德国
项目类别：
Research Grants
财政年份：
2005
资助国家：
德国
项目状态：
已结题
起止时间：
2004-12-31 至 2010-12-31
来源：
https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/5445774?language=en
关键词：
MicroscopieInvestigationNoiseSiGeHeterojunction

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