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X-ray fluorescence analysis harmless to cultural heritages for the next 100-1,000 years

X 射线荧光分析在未来 100-1,000 年内对文化遗产无害

基本信息

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与 PIXE 分析相关的日本纸样品损伤的 FT-IR 测量

DOI：
发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
0
作者：
Tomoya Aono.;Hodaka Kawahata.;Yuuji Soeda.;齋藤努;小栗慶之，小林泰智，長谷川純，福田一志，羽倉尚人;青野友哉;齋藤努,村木二郎,反保元伸,大森信宏,土居内翔伍,橋本亜紀子,久保謙哉,竹下聡史,三宅康博;小栗慶之，長谷川純，福田一志，羽倉尚人
通讯作者：
小栗慶之，長谷川純，福田一志，羽倉尚人

串联静电加速器小型冷阴极PIG负离子源发射率测量

使用 MeV 质子束照射 Ge 靶产生的准单色 X 射线对文化财产样品中的 Cu 进行低剂量 XRF 分析

DOI：
发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
0
作者：
Matsumura;H.;Shinoda;K.;Shimanjuntak;T.;Oktaviana;A.A.;Noerwidi;S.;Sofian;H.O.;Prastiningtyas;D.;Nguyen;L.C. Kakuda;T.;Kanzawa-Kiriyama;H.;Adachi;N.;Hung;HC.;Fan;X.;Wu;X.;Willis;A.;Oxenham;M.F.;小栗慶之，長谷川純，福田一志，羽倉尚人
通讯作者：
小栗慶之，長谷川純，福田一志，羽倉尚人

城市串联现状（2019-2020）-冷阴极PIG负离子源的改进和WDS-PIXE的开发-

FT-IR 测量离子束和 X 射线照射对模拟文化财产样品造成的损坏

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利用高功率激光和 XFEL 探索硅酸盐的极端熔融态

DOI：
发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
0
作者：
Kobayashi Kensei;Mita Hajime;Kebukawa Yoko;Nakagawa Kazumichi;Kaneko Takeo;Obayashi Yumiko;Sato Tomohito;Yokoo Takuya;Minematsu Saaya;Fukuda Hitoshi;Oguri Yoshiyuki;Yoda Isao;Yoshida Satoshi;Kanda Kazuhiro;Imai Eiichi;Yano Hajime;Hashimoto Hirofumi;Yokobo;尾崎典雅
通讯作者：
尾崎典雅