Statistical process control for semiconductor process
半导体工艺的统计过程控制
基本信息
- 批准号:25750120
- 负责人:
- 金额:$ 2.58万
- 依托单位:
- 依托单位国家:日本
- 项目类别:Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
- 财政年份:2013
- 资助国家:日本
- 起止时间:2013-04-01 至 2017-03-31
- 项目状态:已结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
项目成果
期刊论文数量(0)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
半導体製造工程におけるT2-Q管理図の実践 : 変動の大きさの管理から変動パターンの管理へ”
在半导体制造过程中实践 T2-Q 控制图:从管理波动幅度到管理波动模式。”
- DOI:
- 发表时间:2014
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:Yasunari Tsuruoka;Hironobu Kawamura;東出政信,仁科健,川村大伸
- 通讯作者:東出政信,仁科健,川村大伸
多品種少量生産に対するベイズQ管理図
用于高混合小批量生产的贝叶斯 Q 图
- DOI:
- 发表时间:2016
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:Yasunari Tsuruoka;Hironobu Kawamura;東出政信,仁科健,川村大伸;川村大伸;Kawamura,H.,Nishina,K.,Higashide,M.and Suzuki,T.;鶴岡靖成,川村大伸
- 通讯作者:鶴岡靖成,川村大伸
Multifaced Evaluation of Supersaturared Designs
过饱和设计的多方面评估
- DOI:
- 发表时间:2015
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:Tomohiro Nakajima;Hironobu Kawamura
- 通讯作者:Hironobu Kawamura
多品種少量生産用の管理図
高品种、小批量生产的控制图
- DOI:
- 发表时间:2013
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:Masanobu HIGASHIDE;Ken NISHINA;Hironobu KAWAMURA;Ryota SUGIURA;川村大伸,仁科健,東出政信
- 通讯作者:川村大伸,仁科健,東出政信
ウエーハ内変動パターンに同期したCMP装置異常の検出
与晶圆内波动模式同步检测 CMP 设备异常
- DOI:
- 发表时间:2016
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:Yasunari Tsuruoka;Hironobu Kawamura;東出政信,仁科健,川村大伸;川村大伸;Kawamura,H.,Nishina,K.,Higashide,M.and Suzuki,T.;鶴岡靖成,川村大伸;東出政信,仁科健,川村大伸,杉浦遼太
- 通讯作者:東出政信,仁科健,川村大伸,杉浦遼太
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