Statistical process control for semiconductor process

半导体工艺的统计过程控制

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半導体製造工程におけるT2-Q管理図の実践 : 変動の大きさの管理から変動パターンの管理へ”
在半导体制造过程中实践 T2-Q 控制图:从管理波动幅度到管理波动模式。”
  • DOI:
  • 发表时间:
    2014
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Yasunari Tsuruoka;Hironobu Kawamura;東出政信,仁科健,川村大伸
  • 通讯作者:
    東出政信,仁科健,川村大伸
多品種少量生産に対するベイズQ管理図
用于高混合小批量生产的贝叶斯 Q 图
  • DOI:
  • 发表时间:
    2016
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Yasunari Tsuruoka;Hironobu Kawamura;東出政信,仁科健,川村大伸;川村大伸;Kawamura,H.,Nishina,K.,Higashide,M.and Suzuki,T.;鶴岡靖成,川村大伸
  • 通讯作者:
    鶴岡靖成,川村大伸
Multifaced Evaluation of Supersaturared Designs
过饱和设计的多方面评估
多品種少量生産用の管理図
高品种、小批量生产的控制图
  • DOI:
  • 发表时间:
    2013
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Masanobu HIGASHIDE;Ken NISHINA;Hironobu KAWAMURA;Ryota SUGIURA;川村大伸,仁科健,東出政信
  • 通讯作者:
    川村大伸,仁科健,東出政信
ウエーハ内変動パターンに同期したCMP装置異常の検出
与晶圆内波动模式同步检测 CMP 设备异常
  • DOI:
  • 发表时间:
    2016
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Yasunari Tsuruoka;Hironobu Kawamura;東出政信,仁科健,川村大伸;川村大伸;Kawamura,H.,Nishina,K.,Higashide,M.and Suzuki,T.;鶴岡靖成,川村大伸;東出政信,仁科健,川村大伸,杉浦遼太
  • 通讯作者:
    東出政信,仁科健,川村大伸,杉浦遼太
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Kawamura Hironobu其他文献

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Quality Control for Big Data Environment through Industry-Academia Collaboration
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実験計画法における計画の存在条件, 構成法とその数理的構造
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  • 资助金额:
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  • 财政年份:
    1983
  • 资助金额:
    $ 2.58万
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    Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
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  • 批准号:
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  • 财政年份:
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  • 资助金额:
    $ 2.58万
  • 项目类别:
    Particular Research
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