IC-Testsystem - Schaltkreissystem
IC-Testsystem - Schaltkreissystem
IC测试系统-电路系统
批准号：
81180000
负责人：
金额：
$0.0万
依托单位国家：
德国
项目类别：
Major Research Instrumentation
财政年份：
2008
资助国家：
德国
项目状态：
未结题
起止时间：
2007-12-31 至 --
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英文摘要
Gerät dient zur in-System-Testung von digitalen und Mixed-Signal Systemen- Die Professur Schaltkreis und Systementwurf (SSE) will dafür Testprogramme erstellen und zur Charakterisierung von anwendungsspezifischen Schaltkreisen (ASIcs) nutzen- außerdem Entwicklung von Loadboards- dadurch Aufbau weiterer Kompetenz auf dem Gebiet des Test / testfreundlichen Entwurfs- Vorteil: Verringerung der Time-to-Market- Gerät wird über das Zentrum für Mikrotechnologien anderen Instituten und Professuren zur Verfügung gestellt.- Erweiterung für MEMS-Test (Testung kompletter Mikrosysteme) möglich- Ausbau der Forschungsschwerpunkte in Richtung Automotive Test
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Ethernet Based In-Service Reconfiguration of SoCs in Telecommunication Networks
电信网络中 SoC 基于以太网的服务中重新配置
电信网络中 SoC 基于以太网的服务中重新配置
DOI：
10.1007/978-90-481-2427-5_15
发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Markert, Goller, Schneider, Knäblein, Heinkel]
通讯作者：
Heinkel
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