IC-Testsystem - Schaltkreissystem

IC测试系统-电路系统

• 批准号: 81180000
• 金额: --
• 依托单位: Technische Universität Chemnitz
• 依托单位国家: 德国
• 项目类别: Major Research Instrumentation
• 财政年份: 2008
• 资助国家: 德国
• 起止时间: 2007-12-31 至 无数据
• 项目状态: 未结题
• 来源: https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/81180000?language=en
• 关键词: IC; Testsystem; Schaltkreissystem

Gerät dient zur in-System-Testung von digitalen und Mixed-Signal Systemen- Die Professur Schaltkreis und Systementwurf (SSE) will dafür Testprogramme erstellen und zur Charakterisierung von anwendungsspezifischen Schaltkreisen (ASIcs) nutzen- außerdem Entwicklung von Loadboards- dadurch Aufbau weiterer Kompetenz auf dem Gebiet des Test / testfreundlichen Entwurfs- Vorteil: Verringerung der Time-to-Market- Gerät wird über das Zentrum für Mikrotechnologien anderen Instituten und Professuren zur Verfügung gestellt.- Erweiterung für MEMS-Test (Testung kompletter Mikrosysteme) möglich- Ausbau der Forschungsschwerpunkte in Richtung Automotive Test

Gerät dient zur in-System-Testung von digitalen und Mixed-Signal Systemen-Die Schaltkreis und Systementwurf（SSE）will dafür Testprogramme erstellen und zur Charakterisierung von anwendungsspezifischen Schaltkreisen（ASICS）nutzen-außerdem Entwicklung von Loadboards-dadminton Aufbau weiterer Kompetenz auf dem Gebiet des Test/testfreundlichen Entwurfs-Vorteil：Verringerung der Time-to-Market-Gerät wird über das Zentrum für Mikrotechnologien anderen Instituten und Zursuren zur Verfügung gestellt. - Erweiterung für MEMS-Test（Testung kompletter Mikrosysteme）möglich-Ausbau der Forschungsschwerpunkte in Richtung Automotive Test

项目成果

Ethernet Based In-Service Reconfiguration of SoCs in Telecommunication Networks

电信网络中 SoC 基于以太网的服务中重新配置

• DOI: 10.1007/978-90-481-2427-5_15
• 发表时间: 2009
• 作者: Markert;Goller;Schneider;Knäblein;Heinkel
• 通讯作者: Heinkel