使用 Ge-on-Si 异质结构进行近红外单光子检测-猫眼课题宝

使用 Ge-on-Si 异质结构进行近红外单光子检测

批准号：

EP/H051899/1

负责人：

Robert Kelsall

金额：

$34.03万

依托单位：

University of Leeds

依托单位国家：

英国

项目类别：

Research Grant

财政年份：

2010

资助国家：

英国

项目状态：

已结题

起止时间：

2010 至 --

来源：

https://gtr.ukri.org/projects?ref=EP%2FH051899%2F1

关键词：

Near infrared single photon detection

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Ge-on-Si Single-Photon Avalanche Diode Detectors: Design, Modeling, Fabrication, and Characterization at Wavelengths 1310 and 1550 nm

DOI： 10.1109/ted.2013.2282712

发表时间： 2013-10

期刊：

IEEE Transactions on Electron Devices

影响因子： 3.1

作者：

[R. Warburton;G. Intermite;M. Myronov;P. Allred;D. Leadley;K. Gallacher;D. Paul;N. Pilgrim;L. Lever;Z. Ikonić;R. Kelsall;E. Huante-Ceron;A. Knights;G. Buller]

通讯作者： R. Warburton;G. Intermite;M. Myronov;P. Allred;D. Leadley;K. Gallacher;D. Paul;N. Pilgrim;L. Lever;Z. Ikonić;R. Kelsall;E. Huante-Ceron;A. Knights;G. Buller