SEE MORE MAKE MORE: Secondary Electron Energy Measurement Optimised for Reliable Manufacture of Key Materials: Opportunity, Realisation, Exploitation
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查看更多 创造更多：二次电子能量测量优化以实现关键材料的可靠制造：机遇、实现、开发
批准号：
EP/V012762/1
负责人：
Andrew Pratt
金额：
$71.65万
依托单位：
依托单位国家：
英国
项目类别：
Research Grant
财政年份：
2021
资助国家：
英国
项目状态：
未结题
起止时间：
2021 至 --
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DOI：
10.1063/5.0077503
发表时间：
2022-01-31
期刊：
APPLIED PHYSICS LETTERS
影响因子：
4
作者：
[Thamm，A. -K., Wei，J., El-Gomati，M. M.]
通讯作者：
El-Gomati，M. M.
The effect of work function during electron spectroscopy measurements in Scanning Field-Emission Microscopy.
扫描场发射显微镜中电子能谱测量过程中功函数的影响。
扫描场发射显微镜中电子能谱测量过程中功函数的影响。
DOI：
10.1016/j.ultramic.2022.113547
发表时间：
2022
期刊：
Ultramicroscopy
影响因子：
2.2
作者：
[Bodik M]
通讯作者：
Bodik M
Spinterface Formation of Sexithiophene (6T) on Ferromagnetic Surfaces
铁磁表面上六噻吩 (6T) 的旋转界面形成
铁磁表面上六噻吩 (6T) 的旋转界面形成
DOI：
10.1109/tmag.2023.3283093
发表时间：
2023
期刊：
IEEE Transactions on Magnetics
影响因子：
2.1
作者：
[Alotaibi M]
通讯作者：
Alotaibi M
Electron energy analysis in Scanning Field Emission Microscopy using a Bessel box energy analyzer
使用贝塞尔盒能量分析仪在扫描场发射显微镜中进行电子能量分析
使用贝塞尔盒能量分析仪在扫描场发射显微镜中进行电子能量分析
DOI：
10.1109/ivnc52431.2021.9600768
发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Bodik M]
通讯作者：
Bodik M
Spinterface Engineering for Efficient Device Operation (SPEEDO)
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批准号：EP/N014685/1
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项目类别：Research Grant
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资助金额：$12.58万
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财政年份：2016
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负责人：Andrew Pratt
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依托单位：
海外基金