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On-Wafer probe station for mm-wave device measurements

On-Wafer probe station for mm-wave device measurements
用于毫米波器件测量的晶圆上探针台
批准号：
406365-2011
负责人：
Nedil, Mourad
金额：
$6.57万
依托单位：
Université du Québec en Abitibi-Témiscamingue
依托单位国家：
加拿大
项目类别：
Research Tools and Instruments - Category 1 (<$150,000)
财政年份：
2010
资助国家：
加拿大
项目状态：
已结题
起止时间：
2010-01-01 至 2011-12-31
来源：
https://www.nserc-crsng.gc.ca/ase-oro/Details-Detailles_eng.asp?id=472452
关键词：
Waferprobestationmmwave

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项目成果

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As the demands of high data rates are increased, millimeter wave communication systems at 60-GHz such as, short-distance radar and wireless local-area networks (LANs) have been getting a lot of attention. The availability of a large block of a nearly universal unlicensed spectrum in this frequency band is an obvious motivation, with 7 GHz available in the U.S. and at least 3-4 GHz in the intersection of the set of all international standards. High bandwidth translates into high throughput, easily supporting Gb/s data wireless communication data rates with low complexity. For test and measurement, the mm-wave components require somewhat specialized laboratory equipment such as wafer probes, probe stations, and wire bonders.
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