课题基金 / 基金详情

Design for Yield and Reliability for Nanometer CMOS Integrated Circuits at the Architecture Level

Design for Yield and Reliability for Nanometer CMOS Integrated Circuits at the Architecture Level
架构级纳米 CMOS 集成电路的良率和可靠性设计
批准号：
405327-2011
负责人：
Moustafa, HassanMostafa
金额：
$2.91万
依托单位：
University of Toronto
依托单位国家：
加拿大
项目类别：
Postdoctoral Fellowships
财政年份：
2011
资助国家：
加拿大
项目状态：
已结题
起止时间：
2011-01-01 至 2012-12-31
来源：
https://www.nserc-crsng.gc.ca/ase-oro/Details-Detailles_eng.asp?id=488694
关键词：
DesignYieldReliabilityNanometerCMOS

项目摘要

项目成果

Moustafa, HassanMostafa的其他基金

相似基金

相关文献

中文摘要
翻译
点击翻译按钮获取中文摘要
英文摘要
期刊论文(0)
专著(0)
科研奖励(0)
会议论文
Design for Yield and Reliability for Nanometer CMOS Integrated Circuits at the Architecture Level
  • 批准号：
    405327-2011
  • 项目类别：
    Postdoctoral Fellowships
  • 资助金额：
    $2.91万
  • 财政年份：
    2012
  • 负责人：
    Moustafa, HassanMostafa
  • 依托单位：
    King Abdullah University of S&T
海外基金