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Mitigating transistor aging in planar and 3D MOSFET integrated circuits
减轻平面和 3D MOSFET 集成电路中的晶体管老化
基本信息
- 批准号：462849-2014
- 负责人：
- 金额：$ 1.82万
- 依托单位：
- 依托单位国家：加拿大
- 项目类别：Engage Grants Program
- 财政年份：2014
- 资助国家：加拿大
- 起止时间：2014-01-01 至 2015-12-31
- 项目状态：已结题
- 来源：
- 关键词：
项目摘要
Transistor aging is a reliability problem that becomes a limiting factor of lifetime and performance of
晶体管老化是一个可靠性问题，成为限制晶体管寿命和性能的因素。
项目成果
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