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数字系统小延迟缺陷诊断及测试- - 理论与方法

批准号：
61170063
项目类别：
面上项目
资助金额：
60.0 万元
负责人：
向东
依托单位：
清华大学
学科分类：
计算机科学的基础理论
结题年份：
2015
批准年份：
2011
项目状态：
已结题
项目参与者：
陈振、李建波、贾晨、蔡劼、王新玉、神克乐、虞志刚、刘刚
关键词：
基于缺陷概率的诊断路径选择小延迟缺陷小延迟缺陷诊断

项目摘要

结项摘要

项目成果

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中文摘要
小延迟缺陷（SDD）是数字系统高度集成化的必然产物。SDD是指延迟故障的延迟量很小，不容易被ATE识别。测试要求将故障效应沿着通过每一信号线的长路径传播。当路径延迟及SDD的延迟量和大于时钟周期时，该缺陷就被检测到。小延迟缺陷的诊断仍然是空白，测试集要求能够识别小延迟缺陷的位置。通过获取的信息指导修正现有的设计及生产流程，因而提高成品率。本项目拟提出不同的SDD诊断方法：（1）基于路径识别的诊断测试码产生方法，及（2）基于缺陷概率的故障诊断。基于缺陷概率的SDD诊断是通过缺陷概率分析来引导故障点的识别。基于路径识别的故障诊断是通过新的SDD基于诊断的测试码产生来实现的。后者涉及路径识别，诊断测试码产生及故障点确认等。诊断测试集合会控制得足够小。本项目还将提出有效的SDD测试精简策略及测试压缩技术。本项目还将考虑一些动态因素，如温度及电压等对路径延迟的影响，基于此提出一种新的SDD测试方法。
英文摘要
本项目在小延迟缺陷的测试精简，热驱动的小延迟缺陷测试测试及降低热突发事件的DFT设计技术，三维IC热驱动测试，延迟测试测试压缩及转换延迟故障的测试精简做出.了深入细致的工作。小延迟缺陷测试精简含高效的最长可测试路径选择，该算法不需要回溯就能完成最长可测试路径选择。基于选择的路径集合提出了一种高效的测试精简 .算法。三维热驱动测试策略提出一种新的测试排序方法可有效地降低峰值温度。小延迟缺陷测试的热突发事件是指由于测试过程中温度的变化引起的过测试。热驱动小延迟.测试提出一种新的小延迟测试排序策略及一种新的热驱动路径选择算法可有效地降低热突发事件，但不能从根本上解决该问题。本项目提出一种新的热驱动DFT结构及测试方法可以从根本上解决小延迟缺陷测试的热突发事件问题。转换故障的测试精简是基于测试影响范围来实现的。该方法在一种新的度量的引导下实现测试码产生及测试精.简。
期刊论文列表
专著列表
科研奖励列表
会议论文列表
专利列表
Thermal-Aware Small-Delay Defect Testing in Integrated Circuits for Mitigating Overkill
DOI： 10.1109/tcad.2015.2474365
发表时间： 2016-03
期刊： IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
影响因子： 2.9
作者： [D. Xiang;Kele Shen;B. Bhattacharya;X. Wen;Xijiang Lin]
通讯作者： D. Xiang;Kele Shen;B. Bhattacharya;X. Wen;Xijiang Lin
A thermal-driven test application scheme for pre-bond and post-bond scan testing of three-dimensional ICs
DOI： 10.1145/2564922
发表时间： 2014-02
期刊： ACM Journal on Emerging Technologies in Computing Systems (JETC)
影响因子： --
作者： [D. Xiang;Kele Shen]
通讯作者： D. Xiang;Kele Shen
Test compaction for small-delay defects using an effective path selection scheme
DOI： 10.1145/2491477.2491488
发表时间： 2013-07
期刊： ACM Trans. Design Autom. Electr. Syst.
影响因子： --
作者： [D. Xiang;Jianbo Li;K. Chakrabarty;Xijiang Lin]
通讯作者： D. Xiang;Jianbo Li;K. Chakrabarty;Xijiang Lin
Deadlock-Free Adaptive Routing in Meshes with Fault-Tolerance Ability Based on Channel Overlapping
基于通道重叠的具有容错能力的网状无死锁自适应路由
DOI： 10.1109/tdsc.2009.3
发表时间： 2011
期刊： IEEE Transactions on Dependable and Secure Computing
影响因子： 7.3
作者： [Xiang, Dong]
通讯作者： Xiang, Dong
共 9 条
    多核处理器芯片功能延迟测试及低功耗延迟测试
    • 批准号：
      61774097
    • 项目类别：
      面上项目
    • 资助金额：
      70.0万元
    • 批准年份：
      2017
    • 负责人：
      向东
    • 依托单位：
      清华大学
    高动载、大传动比风电增速箱能量空间分布特性及其对疲劳裂纹扩展的影响规律
    • 批准号：
      51475263
    • 项目类别：
      面上项目
    • 资助金额：
      85.0万元
    • 批准年份：
      2014
    • 负责人：
      向东
    • 依托单位：
      清华大学
    大型复杂的多核/众核系统低成本测试及可测试性设计
    • 批准号：
      61373021
    • 项目类别：
      面上项目
    • 资助金额：
      79.0万元
    • 批准年份：
      2013
    • 负责人：
      向东
    • 依托单位：
      清华大学
    废弃线路板资源化中塑封集成电路分层机理研究
    • 批准号：
      51075233
    • 项目类别：
      面上项目
    • 资助金额：
      40.0万元
    • 批准年份：
      2010
    • 负责人：
      向东
    • 依托单位：
      清华大学
    国内基金
    海外基金