双栅纳米FinFET的器件物理,模拟模型和电路设计技术研究
批准号:
60876027
项目类别:
面上项目
资助金额:
39.0 万元
负责人:
何进
依托单位:
学科分类:
集成电路设计
结题年份:
2011
批准年份:
2008
项目状态:
已结题
项目参与者:
张兴、何燕冬、张立宁、刘峰、陶亚东、韩临
中文摘要
2006年ITRS预计:2016年左右以双栅纳米FinFET为代表的非传统CMOS可能代替体硅结构用于亚22nm节点后的集成电路技术代. 如此的技术进步对纳米FinFET的研究提出了巨大挑战: 一是目前还无完整清晰的纳米FinFET器件物理理论; 二是诸多独特物理效应复杂化了电路模拟SPICE模型的建立;三是并不清楚已有的电路设计技术和方法是否适用纳米FinFET的CMOS电路. 基于此, 我们提出"双栅纳米FinFET的器件物理,模拟模型和电路设计技术研究"项目,争取2-3年内在纳米FinFET的器件物理, 模拟模型和相应的电路设计技术上有突破性进展: 建立国际创新性的双栅纳米FinFET载流子器件物理理论;实现FinFET新效应在该理论框架内自洽集成的电路SPICE模型;发展FinFET电路结构的设计验证平台; 研究以FinFET为基本结构单元的新电路拓扑和电路设计新技术。
英文摘要
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Effects of body doping on threshold voltage and channel potential of symmetric DG MOSFETs with continuous solution from accumulation to strong-inversion regions
体掺杂对对称 DG MOSFET 阈值电压和沟道电位的影响(从累积到强反转区连续解)
DOI:
10.1088/0268-1242/24/8/085005
发表时间:
2009-06
期刊:
Semicond. Sci. Technol.
影响因子:
--
作者:
[Mansun Chan, Jin He, Jian Zhang, Feng Liu, Lining Zhang]
通讯作者:
Lining Zhang
Comparison and improvement of two core compact models for double-gate MOSFETs
双栅MOSFET两种核心紧凑模型的比较与改进
DOI:
10.1016/j.sse.2010.06.020
发表时间:
2010-11
期刊:
Solid-State Electronics
影响因子:
1.7
作者:
[Zhize Zhou, Xing Zhang, Jin He, Jian Zhang, Chenyue Ma, Xingye Zhou, Lining Zhang]
通讯作者:
Lining Zhang
DOI:
10.1016/j.endend.2010.06.030
发表时间:
2010-07
期刊:
Journal of End-to-end-testing
影响因子:
--
作者:
[Lining Zhang;Chenyue Ma;Jin He;Xinnan Lin;M. Chan]
通讯作者:
Lining Zhang;Chenyue Ma;Jin He;Xinnan Lin;M. Chan
A continuous, analytic channel potential solution to doped symmetric double-gate MOSFETs from the accumulation to the strong-inversion region
掺杂对称双栅 MOSFET 从累积区到强反转区的连续、解析沟道电位解决方案
DOI:
--
发表时间:
--
期刊:
Chinese Physics B
影响因子:
1.7
作者:
[Zhang Jian, Zhang Lining, He Jin, Liu Feng, Zhou Xingye, Shi Min]
通讯作者:
Shi Min
A continuous surface-potential solution from accumulation to inversion for intrinsic symmetric double-gate MOSFETs
本征对称双栅 MOSFET 从累积到反转的连续表面电势解决方案
DOI:
10.1080/08927020802609454
发表时间:
2009-04
期刊:
Molecular Simulation
影响因子:
2.1
作者:
[Jin He, Rui Zheng, Mansun Chan, Jian Zhang, Lining Zhang]
通讯作者:
Lining Zhang
共 21 条
硅沟道纳米DG-TFET器件物理,模拟模型和电路设计技术研究
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批准号:61574005
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项目类别:面上项目
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资助金额:68.0万元
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批准年份:2015
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负责人:何进
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依托单位:
硅基芯-壳结构纳米线MOS器件基础研究
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批准号:61274096
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项目类别:面上项目
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资助金额:82.0万元
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批准年份:2012
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负责人:何进
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依托单位:
适应纳米尺度CMOS集成电路DFM的ULTRA模型完善和偏差模拟技术研究
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批准号:60976066
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项目类别:面上项目
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资助金额:41.0万元
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批准年份:2009
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负责人:何进
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依托单位:
用于SOC设计的新一代纳米级CMOS器件仿真模型的研究和验证
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批准号:90607017
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项目类别:重大研究计划
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资助金额:30.0万元
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批准年份:2006
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负责人:何进
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依托单位:
国内基金
海外基金