铁电隧道结是一个新的概念，它以几个纳米厚的铁电薄膜作为隧道结的绝缘层。这一新结构带来的新效应之一是隧穿电阻随外电场的翻转可以保持在高、低两个电阻值。这种电致阻变现象在电阻式非挥发存储中有重要的应用前景。另一方面，铁电隧道结本身蕴含着丰富的科学问题，其中铁电自发极化与隧穿输运行为的关系急需澄清。本项目以电阻式非挥发存储器应用为背景，以深刻理解微结构对电学性能的调制规律为主线，在已有工作的基础上，发展以钙钛矿铁电薄膜为绝缘层的铁电隧道结的制备技术，系统考察绝缘层种类、厚度、取向、晶格畸变等微结构对隧道结输运行为和电致阻变特性的影响，澄清铁电自发极化与隧穿输运行为的关系，发展有实用前景的铁电隧道结。