硅基集成微波收发器件空间辐照环境下的可靠性关键技术与评价方法研究
批准号:
U2241221
项目类别:
联合基金项目
资助金额:
262.00 万元
负责人:
刘红侠
依托单位:
学科分类:
F0405.半导体器件物理
结题年份:
--
批准年份:
2022
项目状态:
未结题
项目参与者:
刘红侠
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纳米SOI FinFET的单粒子辐射损伤机理,可靠性表征方法与耦合模型研究
- 批准号:61376099
- 项目类别:面上项目
- 资助金额:80.0万元
- 批准年份:2013
- 负责人:刘红侠
- 依托单位:
高k叠层栅AlGaN/GaN MOS-HEMT器件结构实现与可靠性表征
- 批准号:61076097
- 项目类别:面上项目
- 资助金额:40.0万元
- 批准年份:2010
- 负责人:刘红侠
- 依托单位:
新型NdAlO3/SiO2 高k栅堆栈结构的实现与性能评估
- 批准号:60976068
- 项目类别:面上项目
- 资助金额:38.0万元
- 批准年份:2009
- 负责人:刘红侠
- 依托单位:
超深亚微米MOSFET的HCI/NBTI效应研究
- 批准号:60206006
- 项目类别:青年科学基金项目
- 资助金额:20.0万元
- 批准年份:2002
- 负责人:刘红侠
- 依托单位:
国内基金
海外基金















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