kombiniertes Rasterkraft- und konfokales Raman-Mikroskop

AFM/Raman-Mikroskop的复合材料具有良好的物理化学特性和结构层次，可用于纳米颗粒的制备和表征，并可用于韦尔登材料的制备。该研究将在最后一个阶段进行，并将其纳入基础研究。在连接中对Partikeln的Haft- und Reibungskräften als auch anwendungsorientierte Forschung.在这里，AFM/Raman-Mikroskop的一个韦尔登，是一个新的发展方向。最佳化是Verfahren z.B.的最佳化。zur Graphenherstellung oder zur Herstellung und Funktionalisierung von Nanomaterialien nachhaltig zu stärken. Kolokale Rasterkraft-和Raman-Mikroskopie是一个很大的领域，因为它只与这种测量技术相结合，就像局部的Haft-和Reibungskräfte sowie die lokale chemische Zusammensetzung miteinander korrelieren一样完成了材料特征分析。Raman-Mikroskopie和AFM的结合是一个非常有趣的部分系统，通过对分子的侧向垂直运动，结晶相也可以在纳米骨架的形态学上快速韦尔登形成。

Das kombinierte AFM/Raman-Mikroskop soll zur Erforschung und Charakterisierung neuartiger Materialien mitmaßgeschneiderten physikochemischen Eigenschaften und einem hierarchischen Strukturaufbau von der partikulären Nano- bis zur makroskopischen Größenskala eingesetzt werden. Die Forschung wird in höchstem Maße interdisziplinär betrieben und beinhaltet sowohl Grundlagenforschung z.B. zu Haft- und Reibungskräften von Partikeln im Kontakt als auch anwendungsorientierte Forschung. Hier soll das AFM/Raman-Mikroskop eingesetzt werden, um die Entwicklung neuer bzw. die Optimierung bereits bestehender Verfahren z.B. zur Graphenherstellung oder zur Herstellung und Funktionalisierung von Nanomaterialien nachhaltig zu stärken. Kolokale Rasterkraft- und Raman-Mikroskopie ist dabei von großer Bedeutung, denn nur mit dieser Messtechnik lassen sich komplementäre Materialeigenschaften wie lokale Haft- und Reibungskräfte sowie die lokale chemische Zusammensetzung miteinander korrelieren. Die Kombination aus Raman-Mikroskopie und AFM ist für Partikelsysteme extrem hilfreich, da sowohl die laterale Verteilung von Molekülen, mögliche kristalline Phasen als auch deren Morphologie auf der Nanoskala erfasst werden können.