Automatisierung der Messabläufe einer Nanometer-Koordinaten-Messmaschine mit rasterkraftmikroskopischer Antastung
Automatisierung der Messabläufe einer Nanometer-Koordinaten-Messmaschine mit rasterkraftmikroskopischer Antastung
批准号:
28525894
负责人:
Professor Dr.-Ing. Hendrik Rothe
金额:
$0.0万
依托单位国家:
德国
项目类别:
Research Grants
财政年份:
2006
资助国家:
德国
项目状态:
已结题
起止时间:
2005-12-31 至 2010-12-31
中文摘要
协同工程机械制造技术[j], [j], [j], [j]。纳米协调技术的研究与应用:机械加工与强化磨削工艺。[3] [6] [6] [6] [6] [6] [6] [6] [6]麻省理工学院(Mit)的纳米坐标信息机是由德国恩特威克伦的衍射仪组成的。Ihre Funktionsfähigkeit wurde in einem fr<s:1> hen Entwicklungsstadium bereits nachgewiesen。麻省理工学院纳米协调机械können gleichzetitig尺寸和拓扑Größen许可。Wegen der Komplexität großflächiger AFM-Messungen bei microsystemen和nanostructuren和sohlautomatisierte Messabläufe,也包括automatisierte artefakeliminationen和calibrierungen unumgänglich。他提出了一种新的方法,即对样品进行检测,对样品进行鉴定,对样品进行检测,并对样品进行分析。Darauf aufbauend ist in Algorithmus zu entwickeln, der die Reihenfolge der Einzelmessungen gemäß maschinentypischer Kenngrößen der纳米-协调- Messmaschine festlegt。(1) Messdatenvolumina/Messzeiten minimiert werden sollen (1) Messdatenvolumina (1) Messzeiten minimiert werden sollen (2) Messdatenvolumina (3) Messzeiten minimiert werden sollen。基于维数和拓扑结构的信息分析方法。
英文摘要
Koordinatenmessmaschinen für den Mikromaschinenbau kann man durch Kombination geeigneter Nanopositioniersysteme mit Nano-Tastem darstellen. Die Anwendbarkeit der Koordinatenmesstechnik im Nanometerbereich erfordert Forschungsanstrengungen grundlegender Art. Zur Durchführung dieser Grundlagenforschung ist die Entwicklung eines geeigneten Werkzeugs notwendig. Mit der Nanometer- Koordinatenmessmaschine befindet sich ein derartiges Instrument in der Entwicklung. Ihre Funktionsfähigkeit wurde in einem frühen Entwicklungsstadium bereits nachgewiesen. Mit der Nanometer-Koordinatenmessmaschine können gleichzeitig dimensionelle und topografische Größen ermittelt werden. Wegen der Komplexität großflächiger AFM-Messungen bei Mikrosystemen und Nanostrukturen sind sowohl automatisierte Messabläufe, als auch automatisierte Artefakteliminationen und Kalibrierungen unumgänglich. Es muss eine Methodik entwickelt werden, die identifizieren kann, welche Bereiche einer Probe taster- und werkstoffspezifisch zu analysieren sind. Darauf aufbauend ist ein Algorithmus zu entwickeln, der die Reihenfolge der Einzelmessungen gemäß maschinentypischer Kenngrößen der Nanometer-Koordinaten- Messmaschine festlegt. Antast- und Messstrategien müssen taster- und werkstoffspezifisch entwickelt werden, wobei die Messdatenvolumina/Messzeiten minimiert werden sollen. Weiterhin müssen Algorithmen zur Aufteilung der Messdaten in dimensionelle und topografische erarbeitet werden.
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Lernfähige Defektklassifikation mittels Streulichtsensoren
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批准号:5222510
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项目类别:Priority Programmes
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资助金额:$0.0万
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财政年份:1995
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负责人:Professor Dr.-Ing. Hendrik Rothe
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依托单位:
国内基金
海外基金
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