Messsystem für Mikro-Photolumineszenz und zeitaufgelöste Mikro-Photolumineszenz

Ein Hauptarbeitsgebiet der Arbeitsgruppe des Antangstellers ist die synthes and Optische Charakterisierung komplexer Gruppe III-Nitird Nanostrukturen base end auf Nanostrukturen Als Moellsystem für Nanostrukturen MIT augeprägtem Electrktronischem confinition。在我们的纳米技术中，我们需要更多的技术支持，更多的技术支持和支持。这是一种新的信息系统我们在III-N基础上的纳米和纳米异质结构的光吸收的气体在Flüssigkeiten in Fokus der Forschungsarbeiten-MIT einer möglichen Anwendung in opto-Chemischen Sensoren。在纳米结构的定量分析中，我们对拉东的重组进行了优化，并对其进行了分析。从拉赫门市的材料实验室(喇嘛)到现在，我们正在寻找一种新的、更好的方法。

Ein Hauptarbeitsgebiet der Arbeitsgruppe des Antragstellers ist die Synthese und optische Charakterisierung komplexer Gruppe III-Nitrid Nanostrukturen basierend auf Nanodrähten als Modellsystem für Nanostrukturen mit ausgeprägtem elektronischem Confinement. Deren optische Eigenschaften werden maßgeblich durch interne elektrische Felder bestimmt, zu deren detailliertem Verständnis die Analyse der Ladungsträgerdynamik in einzelnen Nanostrukturen erforderlich ist. Das beantragte Messsystem ermöglicht Mikrophotolumineszenz-(µPL-)Messungen unter Dauerstrichanregung und zeitaufgelöste µPL-Messungen unter Beibehaltung der Probenposition und stellt eine Charakterisierungsmöglichkeit für komplexe Nanostrukturen dar, die in der AG des Antragstellers mit Hilfe von Simulationsrechnungen designed und per MBE synthetisiert werden. Ebenso steht die Wechselwirkung optischer Anregungen in III-N basierten Nano- und Nano-Heterostrukturen mit adsorbierten Gasen oder umgebenden Flüssigkeiten im Fokus der Forschungsarbeiten - mit einer möglichen Anwendung in opto-chemischen Sensoren. Nichtstrahlende Rekombinationsprozesse durch optisch aktivierten Ladungstransfer beeinflussen hier die PL-Eigenschaften und sollen durch Analyse der Ladungsträgerdynamik in einzelnen Nanostrukturen quantitativ analysiert werden. Bei dem beantragten Gerät handelt es sich um eine Neubeschaffung zur Erweiterung der an der JLU im Rahmen des Laboratoriums für Materialforschung (LaMa) zur Verfügung stehenden optischen Charakterisierungsmethoden.