Anwendungen des Rasterkraft-Mikroskops in der Materialphysik

这是一种新的技术，它是一种新的技术和技术。在吉特包费勒的帮助下，我们的热力学问不会有任何变化。Am wichtig sind：Ein-(Versetzungen)和Zwei-(Korn-und Phasengenzen)维度Kristallbaufehler and Partikel einer Zweiten阶段。书名：Letztere könnnen z.b.die Grize der machischen Belastbarkeit von Konstruktionswerkstoffen drastisch erhöhen.在米克罗斯柯普的帮助下，我们经常能找到更好的选择。Deshalb是zur VerMessung solcher Partikel hauptsächlich Elektronen-Mikroskope，vor allem传输-Elektronen-Mikroskope(TEM)，eingesetzt。在Rede Stehenden Forschungsvorhaben的DEM中，Einsetzbarkeit von Rasterkraft-Mikroskopen(AFM=原子力显微镜)für die Charakterisierung der Mikrostrukut valuiert，vor allem so weit sie für die Festigkeit von Materialist.1)在我们的生活中，我们需要什么？2)我们的信息是什么？

Sehr viele technisch wichtige Eigenschaften von Werkstoffen werden durch ihre Mikrostruktur bestimmt. Unter dieser versteht man alle Gitterbaufehler, die nicht im thermodynamischen Gleichgewicht sind. Am wichtigsten sind: ein- (Versetzungen) und zwei- (Korn- und Phasengrenzen) dimensionale Kristallbaufehler und Partikel einer zweiten Phase. Letztere können z.B. die Grenze der mechanischen Belastbarkeit von Konstruktionswerkstoffen drastisch erhöhen. Die Größe der interessanten Partikel liegt oft sehr weit unter dem Auflösungsvermögen optischer Mikroskope. Deshalb werden zur Vermessung solcher Partikel hauptsächlich Elektronen-Mikroskope, vor allem Transmission-Elektronen-Mikroskope (TEM), eingesetzt. In dem in Rede stehenden Forschungsvorhaben wird die Einsetzbarkeit von Rasterkraft-Mikroskopen (AFM=atomic force microscope) für die Charakterisierung der Mikrostruktur evaluiert, vor allem so weit sie für die Festigkeit von Materialien relevant ist. Es gilt zwei Fragen zu klären: 1) wo und in wie weit können die einfacher zu handhabenden, viel billigeren AFMs TEMs ersetzen? 2) Welche zusätzlichen Informationen liefern AFMs?