Modernisierung einer SCIENTA SES200-Anlage zur "Hochauflösende Photoelektronenspektroskopie"

ZU HU149/19-1：Dive PhotoElectrktronenSpektroskopie(Unihre Umkehrung，die Reverse PhotoElectrktronenSpektroskopie)MIT Anregung dr ch Röntgenstrahung and UV-Strahung ist heheet ein wichtiges Hilfsmittel zur Untersusuung der elektronischen Strukturvon Festkörpern and Deren OberfläChen，Sowie den Adsorbaten auf OberfläChen.我的技术是这样做的，那就是，我不能让所有的人都知道这是怎么回事，因为这是一件很重要的事情，因为它是一件很重要的事情，因为这件事发生了很大的变化。在手持光电散射的同时，也不能估计其几何形状，这是一项新的技术，也是一种方法。光电子能谱技术是一种新型的光电子能谱技术，它的主要特点是：光电子能谱和光电子能谱技术在“化学核心能级位移”中得到信息，这是一种新的光电子能谱技术(UPS：~5meV；XPS：~300mev)和光电子能谱技术规范(~7)。

zu Hu 149/19-1:Die Photoelektronenspektroskopie (und ihre Umkehrung, die Inverse Photoelektronenspektroskopie) mit Anregung durch Röntgenstrahlung und UV-Strahlung ist heute ein wichtiges Hilfsmittel zur Untersuchung der elektronischen Struktur von Festkörpern und deren Oberflächen, sowie den Adsorbaten auf Oberflächen. Diese Technik hat in den letzten Jahren zusätzliche Attraktivität dadurch gewonnen, daß es jetzt möglich ist, eine Ortsauflösung von 10 µm zu erreichen, so daß man sehr kleine Systeme untersuchen kann, zum anderen aber die laterale Variation der Zusammensetzung einer größeren Fläche der Untersuchung zugänglich sind (in Clausthal in der Gruppe von Prof. Bauer entwickelte Geräte haben inzwischen eine noch wesentlich bessere Ortsauflösung erreicht). Daneben ist mit der Entwicklung der Photoelektronendiffraktion ein Handwerkszeug zur Bestimmung der geometrischen Struktur mit Hilfe dieser Technik entstanden, das gleichberechtigt neben der etablierten LEED-Methode eingesetzt werden kann. Dadurch, daß die Photoemission elementspezifisch und bei guter Energieauflösung durch Ausnutzen von "chemical core level shifts" zusätzliche Informationen über die Elementverteilung liefern kann, hat die Photoelektronendiffraktion gegenüber anderen strukturaufklärenden Methoden spezielle Vorteile.Im vorliegenden Antrag wird ein Photoelektronenspektrometer mit Anregung im UV und im Röntgenbereich beantragt, das es gestattet, mit bisher nicht üblicher Energieauflösung (UPS: ~5meV; XPS: ~300meV) und Ortsauflösung (~7µ) direkte spektroskopische Messungen, aber auch solche der Elektronendiffraktion durchzuführen.