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High functionalization of nonlinear dielectric microscopy and its application to electronic devices

High functionalization of nonlinear dielectric microscopy and its application to electronic devices
非线性介电显微镜的高功能化及其在电子器件中的应用
批准号：
23226008
负责人：
Cho Yasuo
金额：
$134.62万
依托单位：
Tohoku University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (S)
财政年份：
2011
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2011-04-01 至 2016-03-31
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-23226008/
关键词：
走査型非線形誘電率顕微鏡超高次走査型非線形誘電率顕微鏡走査型非線形誘電率ポテンショメトリ強誘電体記録超高密度記録化合物パワー半導体デバイスグラフェン太陽電池SiCーMOSFETオペランド計測．超高次非線形誘電率顕微鏡 法原子分解能SNDM半導体計測技術原子双極子モーメント半導体原子計測半導体デバイス計測

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Interfacial Capacitance between an Fe3 O4 Film and a Nb:TiO3 Substrate
Fe3 O4 薄膜和 Nb:TiO3 基底之间的界面电容
DOI： --
发表时间： 2013
期刊：
影响因子： --
作者： [Ryota Takahashi, Yasuo Cho, Mikk Lippmaa]
通讯作者： Mikk Lippmaa
Site Specific Measurement of Atomic Dipole Moment Induced Local Surface Potentials on Si(111)-(7×7) Surface by Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy
非接触扫描非线性介电显微镜对 Si(111)-(7×7) 表面原子偶极矩感应局部表面电势的位点特定测量
DOI： --
发表时间： 2013
期刊：
影响因子： --
作者： [Kohei Yamasue, Masayuki Abe, Yoshiaki Sugimoto, Yasuo Cho]
通讯作者： Yasuo Cho
Pb (Zr, Ti)O3 recording media for probe data storage devices prepared by rf magnetron sputtering
射频磁控溅射制备的探针数据存储装置用Pb(Zr,Ti)O3记录介质
DOI： 10.7567/jjap.53.09pa05
发表时间： 2014
期刊： Jpn. J. Appl. Phys.
影响因子： --
作者： [Yuya Hagihara, Seong-Ho Kim, Kuniaki Tanaka, Rigoberto C. Advincula, and Hiroaki Usui, 藤澤知樹，澤木宣彦, Yoshiomi Hiranaga,Yasuo Cho]
通讯作者： Yoshiomi Hiranaga,Yasuo Cho
Charge Gradient Microscopy:Electromechanical Charge Scraping at the Nanoscale
电荷梯度显微镜：纳米级机电电荷刮除
DOI： --
发表时间： 2015
期刊：
影响因子： --
作者： [S. Hong, S. Tong, Y. Choi, W. Park, Y. Hiranaga, Y. Cho, A. Roelofs]
通讯作者： A. Roelofs
共 109 条
    Elucidation of atomic structure and dynamics of carrier trap sites
    • 批准号：
      21K18706
    • 项目类别：
      Grant-in-Aid for Challenging Research (Exploratory)
    • 资助金额：
      $4.08万
    • 财政年份：
      2021
    • 负责人：
      Cho Yasuo
    • 依托单位：
      Tohoku University
    Origin elucidation of the problems in the interface electric charge transportation phenomenon using scanning nonlinear dielectric microscopy
    • 批准号：
      16H06360
    • 项目类别：
      Grant-in-Aid for Scientific Research (S)
    • 资助金额：
      $124.55万
    • 财政年份：
      2016
    • 负责人：
      Cho Yasuo
    • 依托单位：
      Tohoku University