Determination of robust reference planes and data correction for the 3D roughness measurement with optical surface profilers

在德国，我们的研究对象是德国的科学家，我们的研究对象是德国的科学家，我们的研究对象是德国的科学家和德国的科学家。Ziel ist es, Voraussetzungen f<s:1>与berrungsschnelle和berrungsschnelle， um die durch moderne fertigunsverfahren heute mögliche gezielte Gestaltung der microstruktur zur Optimierung der Funktionsflächen zu unterst<e:1> tzen。研究方向：信号识别与信号识别（Bezugsflächenbildung） <s:2> r möglichst kleine optische Gesamtmessflächen，研究方向：信号识别与信号识别与信号识别。1 .德国德国德国德国德国德国德国德国德国德国德国德国德国德国德国德国德国德国德国德国德国德国德国德国Neben speziellen Modifikationen der Verfahren sinder提供了一种鲁棒算法（robust algorithm），即Ausreißer和“Störelemente” auf kleinen Flächen stark verfälschend auswirken。1 .软件工程学报（软件工程学报）；1 .信号工程学报；2 .信息工程学报；在此基础上，本文提出了一种新的求解算法，在此基础上，本文提出了一种新的求解算法。在机械制造技术方面，德国机械工业协会（Einsatz）已建立了三维机械制造技术（rauheitsmessung）。

Das Forschungsvorhaben dient der Erarbeitung von Grundlagen für den Einsatz bildverarbeitender Mikroskope zur dreidimensionalen Rauheitsmessung in den Entwicklungsbereichen des Maschinenbaus. Ziel ist es, Voraussetzungen für eine schnelle und berührungslose Messung zu schaffen, um die durch moderne Fertigungsverfahren heute mögliche gezielte Gestaltung der Mikrostruktur zur Optimierung der Funktionsflächen zu unterstützen. Zentrale Arbeitsschwerpunkte sind die Ermittlung sinnvoller Messbedingungen und die Entwicklung der Signalverarbeitung (Bezugsflächenbildung) für möglichst kleine optische Gesamtmessflächen, um eine sichere Rauheitsauswertung bei minimalem Stitching-Aufwand zu erreichen. Die Ausgangsbasis soll durch wissenschaftliche Untersuchungen der bekannten 3D-Signalverarbeitungsverfahren (M-System) zur Problematik kleiner Messflächen gewonnen werden. Neben speziellen Modifikationen der Verfahren sind besonders robuste Algorithmen zu entwerfen, da sich Ausreißer und "Störelemente" auf kleinen Flächen stark verfälschend auswirken. Ziel ist ein Softwarewerkzeug für die Zuordnung der geeigneten Signalverarbeitung zu der zu messenden Oberfläche. Ein weiteres Ziel besteht in der sicheren Behebung von Fehlstellen bei optischen Messungen durch neu entwickelte Algorithmen, mit denen eine Restauration der Oberfläche durch Informationsverarbeitung aus der Umgebung erreicht wird. Ergebnis des Vorhabens sind Werkzeuge zur Signalverarbeitung als Basis für den Einsatz bildverarbeitender Mikroskope zur 3D-Rauheitsmessung im Maschinenbau.