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Vermessung und Charakterisierung der Geometrie

Vermessung und Charakterisierung der Geometrie
几何形状的测量和表征
批准号:
36924777
负责人:
Professor Dr.-Ing. Eduard Reithmeier
金额:
$0.0万
依托单位国家:
德国
项目类别:
Research Grants
财政年份:
2007
资助国家:
德国
项目状态:
已结题
起止时间:
2006-12-31 至 2010-12-31

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项目成果

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Mikrostrukturen bieten neue Möglichkeiten für die Erzeugung technisch funktionaler Oberflächen. Als Einsatzgebiete sei hier auf die Optimierung tribologischer Eigenschaften, schmutzabweisende Oberflächen und strömungswiderstandsmindernde Strukturen verwiesen. Es ist eine große Herausforderung solche Strukturen zu erfassen. In diesem Projekt wird ein messtechnischer Ansatz vorgestellt, mit dem Strukturen mit hohen Aspektverhältnissen exakt erfasst und charakterisiert werden können. Die zu entwickelnde Messtechnik zeigt am Beispiel von in Strömungsrichtung ausgebildeten Rippen, sog. Riblets ihre Einsatzfähigkeit. Diese sollen zur Minderung des Strömungswiderstands in Strömungsmaschinen eingesetzt werden.Im ersten Antragszeitraum hat sich gezeigt, dass der Einsatz des Rasterelektronenmikroskops für die 3-D Oberflächenrekonstruktion von Riblet-Strukturen geeignet ist. Es handelt sich hierbei um die Anwendung des photometrischen Verfahrens zur qualitativen Erfassung der Oberfläche. Im zweiten Projektzeitraum wurde dieses Verfahren untersucht und ein quantitatives Modell der Signalentstehung entwickelt und experimentell an reellen Riblet-Strukturen überprüft.Die Erhöhung der Genauigkeit und Robustheit der entwickelten Messmethode soll im kommenden Projektzeitraum die bisher vernachlässigten Effekte mitberücksichtigen. Das beantragte Vorhaben ist eingebettet in eine interdisziplinäre Zusammenarbeit mit dem Institut für Turbomaschinen und Fluid-Dynamik (TFD, Leibniz Universität Hannover), dem Institut für Fertigungstechnik und Werkzeugmaschinen (IFW, Leibniz Universität Hannover) und dem Laserzentrum Hannover (LZH).
期刊论文(2)
专著(0)
科研奖励(0)
会议论文
3D-measurement using a scanning electron microscope
使用扫描电子显微镜进行 3D 测量
DOI: 10.1016/j.amc.2010.01.107
发表时间: 2010
期刊: Appl. Math. Comput.
影响因子: --
作者: [Reithmeier, Vynnyk, Schultheis]
通讯作者: Schultheis
3D-measurement with the stereo scanning electron microscope on sub-micrometer structures
使用立体扫描电子显微镜对亚微米结构进行 3D 测量
DOI: 10.2971/jeos.2010.10038s
发表时间: 2010
期刊: Journal of the European Optical Society: Rapid Publications
影响因子: --
作者: [Vynnyk, Schultheis, Fahlbusch, Reithmeier]
通讯作者: Reithmeier
Data fusion of areal measured microtopographies with plane of reference using optical sensors
Oberflächencharakterisierung auf Basis optische Messtechnik
Heißprägen multifunktionaler Kalibriernormale für bildverarbeitende Mikroskope zum Messen von Mikrosystemen und Nanostrukturen
Vermessung und Charakterisierung der Geometrie"
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