Electron emission fromperowskit-tips fpr material analysis

Ziel des Teilprojektes is die Herstellung von Spitzen für die Emission hochenergetischer und spinpolarisierter Elektronen aus ferroelektrischen（FE）bzw. ferromagnetischen（FM）Perowskitschichten. D. Einbeziehung fester Lösungen，z.B. PbTi_（1-x）Mn_xO_3，在实验中，由于其具有良好的FE和FM特性，因此可用于韦尔登。这是Mikroskopie的最新分析发展。Dazu soll ein Verfahren für die Herstellung von Dünschichtspitzen mit Nanometer-Spitzenradius entwickelt韦尔登，mit welchem die Elektronemission durch einen geeigneten Aufbau mit Elektroden an der Spitze steuerbar wird. Für die Untersuchungen soll das Emissionsspektrum bezüglich Energie，Feldverteilung und Polarisation（elektrisch bzw.磁）分析和应用的gemessenen elektronischen zuestransmitten模型韦尔登.这是因为政治对政治的影响力和政治的影响力。Spitzen峰中的磁化剖面图显示了极化作用，z.B.在自旋极化电子显微镜中，在原子显微镜中，电子显微镜的分辨率、表面形貌和化学特性都很高，因此可以在光栅显微镜中分析和修改局部传感器或局部传感器的正弦。

Ziel des Teilprojektes ist die Herstellung von Spitzen für die Emission hochenergetischer und spinpolarisierter Elektronen aus ferroelektrischen (FE) bzw. ferromagnetischen (FM) Perowskitschichten. Durch Einbeziehung fester Lösungen, z.B. PbTI1-xMnxO3, in die Untersuchungen, sollen gezielt Perowskite gesucht werden, bei denen gleichzeitig eine FE und FM Ordnung vorliegt. Dies ermöglicht die Entwicklung neuartiger Analyseverfahren in der Mikroskopie. Dazu soll ein Verfahren für die Herstellung von Dünnschichtspitzen mit Nanometer-Spitzenradius entwickelt werden, mit welchem die Elektronenemission durch einen geeigneten Aufbau mit Elektroden an der Spitze steuerbar wird. Für die Untersuchungen soll das Emissionsspektrum bezüglich Energie, Feldverteilung und Polarisation (elektrisch bzw. magnetisch) analysiert und anhand der gemessenen elektronischen Zustandsdichte modelliert werden. Weiterhin soll der Einfluß von Punktdefektgradienten und Schichtspannungen auf das Polarisations- bzw. Magnetisierungsprofil in den Spitzen sowie die Wirkung der Polarisation, z.B. beim Elektronenemitter sollen in der spinpolarisierten Elektronenmikroskopie, in Atomkraftmikroskopen, die gleichzeitig Topographie und chemische Zusammensetzung bestimmen können, sowie zur Analyse und Modifikation im Sinne eines lokalen Sensors oder einer lokalen Quelle in der Rastersondenmikroskopie sein.