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X-ray investigations of highly perfect silicon to determine the Avogadro constant

X-ray investigations of highly perfect silicon to determine the Avogadro constant
对高度完美的硅进行 X 射线研究以确定阿伏加德罗常数
批准号:
5412502
负责人:
Privatdozent Dr. Michael Hanke
金额:
$0.0万
依托单位国家:
德国
项目类别:
Research Fellowships
财政年份:
2003
资助国家:
德国
项目状态:
已结题
起止时间:
2002-12-31 至 2004-12-31

项目摘要

项目成果

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中文摘要
翻译
这是一种新的标准定义,从物理上来说是正确的。这是一个很难解决的问题。这是一种基本的标准和规则。Für die masse könntte ein solcher Standardüber das‘Auszählen’von Air en einer bstimten Stoffmenge hochreen en Silizisiert Realisiert。在Einem Mol eines Stoffes-Beträgt 6.02214199 E23和das MIT einer相对标准的7.9E-8中,Der zur Zeit genauust Wert für die Avogadro-Zahl Na-die Anzahl der atome der atome in einem Mol eines Stoffes-Beträgt 6.02214199 E23 and das MIT einer Relativen Standardabweichung von 7.9E-8。我的纹身和纹身都不是很好,但也不是很好。一种新的方法、一种新的方法、一种方法、一种方法。这是一项新的工程,其目的是为了更好地利用这一技术。他说:“这是一件非常重要的事情。
英文摘要
Das Ur-Kilogramm ist das letzte maßgebende Relikt aus einer Zeit, in der physikalische Größen durch Prototypen wie beispielsweise das Ur-Meter als Längenstandard definiert waren. Die Abhängigkeit von einem solchen materiellen Prototypen birgt jedoch einige Probleme in sich. Deshalb versucht man unabhängige nur auf Fundamentalkonstanten basierende Standards zu formulieren. Für die Masse könnte ein solcher Standard über das ´Auszählen´ von Atomen einer bestimmten Stoffmenge hochreinen Siliziums realisiert werden. Der zur Zeit genaueste Wert für die Avogadro-Zahl Na - die Anzahl der Atome in einem Mol eines Stoffes - beträgt 6.02214199 E23 und das mit einer relativen Standardabweichung von 7.9E-8. Dieser vergleichsweise großen Ungenauigkeit bleibt die Tatsache geschuldet, dass Masse noch immer über einen Prototypen definiert wird. Erst eine Methode, mit der es gelänge, Na genauer als 1E-8 zu bestimmen, hätte eine Chance, das Ur-Kilogramm abzulösen. Das vorgeschlagene Projekt beschäftigt sich mit einem Teilaspekt zur Präzisionsbestimmung der Avogadro-Konstante - dem hochgenauen Ausmessen von Gitterparametern und relativen Unterschieden mit Hilfe von Röntgenstrahlung. Darüber hinaus soll der Einfluss von Punktdefekten im Silizium genauer untersucht werden.
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