Laser Injection Attacks on Integrated Circuits and Sensors
Laser Injection Attacks on Integrated Circuits and Sensors
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对集成电路和传感器的激光注入攻击
DOI：
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
T. Sugawara
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Sugawara;B. Cyr;S. Rampazzi;D. Genkin;and K. Fu;矢内直人;T. Sugawara
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使用霍格鉴相器的电磁故障注入传感器
DOI：
10.1109/isqed.2017.7918333
发表时间：
2017
期刊：
2017 18th International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)
影响因子：
--
作者：
J. Breier;S. Bhasin;W. He
通讯作者：
W. He
利用 PUF 变化检测故障注入攻击
DOI：
10.1109/ddecs54261.2022.9770154
发表时间：
2022
期刊：
IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems
影响因子：
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作者：
Troya Çağıl Köylü;Luíza C. Garaffa;C. Reinbrecht;Mahdi Zahedi;S. Hamdioui;M. Taouil
通讯作者：
M. Taouil
通过时间数字转换器传感器检测激光故障注入攻击
DOI：
10.1109/host54066.2022.9840318
发表时间：
2022
期刊：
2022 IEEE International Symposium on Hardware Oriented Security and Trust (HOST)
影响因子：
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作者：
Mohammad Ebrahimabadi;Suhee Sanjana Mehjabin;R. Viera;S. Guilley;J. Danger;J. Dutertre;Naghmeh Karimi
通讯作者：
Naghmeh Karimi
全数字电磁脉冲探测器
DOI：
10.3850/9783981537079_0164
发表时间：
2016
期刊：
2016 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE)
影响因子：
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作者：
David El;J. Rigaud;P. Maurine
通讯作者：
P. Maurine
光电激光故障注入对 Bulk CMOS 设计影响的电气建模
DOI：
10.31399/asm.cp.istfa2013p0361
发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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作者：
Stéphanie Anceau
通讯作者：
Stéphanie Anceau