Fine-Grained Aging-Induced Delay Prediction Based on the Monitoring of Run-Time Stress
Fine-Grained Aging-Induced Delay Prediction Based on the Monitoring of Run-Time Stress
复制标题
基于运行时压力监控的细粒度老化引起的延迟预测
DOI：
10.1109/tcad.2016.2620903
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发表时间：
2017
影响因子：
2.9
通讯作者：
M.B. Tahoori
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
A. Vijayan;A. Koneru;S. Kiamehr;K. Chakrabarty;M.B. Tahoori
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内置主动调谐系统，可提高电路抗老化能力
DOI：
--
发表时间：
2008
期刊：
2008 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance of VLSI Systems
影响因子：
--
作者：
N. Shah;Rupak Samanta;Ming Zhang;Jiang Hu;Duncan Walker
通讯作者：
Duncan Walker
考虑NBTI和HCI的电路时序老化分析
DOI：
10.1109/iolts.2009.5195975
发表时间：
2009
期刊：
2009 15th IEEE International On-Line Testing Symposium
影响因子：
--
作者：
Dominik Lorenz;G. Georgakos;Ulf Schlichtmann
通讯作者：
Ulf Schlichtmann
具有自适应电源管理方案以补偿变化的 65 纳米移动多媒体应用处理器
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
2007 IEEE Symposium on VLSI Circuits
影响因子：
--
作者：
H. Mair;Alice Wang;G. Gammie;David B. Scott;P. Royannez;S. Gururajarao;M. Chau;R. Lagerquist;L. Ho;M. Basude;N. Culp;A. Sadate;D. Wilson;F. Dahan;J. Song;B. Carlson;U. Ko
通讯作者：
U. Ko
微处理器设计中的 NBTI 缓解
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
ACM Great Lakes Symposium on VLSI
影响因子：
--
作者：
S. Corbetta;W. Fornaciari
通讯作者：
W. Fornaciari
用于低成本和准确片上老化评估的代表性关键可靠性路径
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
2012 IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD)
影响因子：
--
作者：
Shuo Wang;Jifeng Chen;M. Tehranipoor
通讯作者：
M. Tehranipoor