Reconfigurable Delay Cell for Area-efficient Implementation of On-chip MOSFET Monitor Schemes
Reconfigurable Delay Cell for Area-efficient Implementation of On-chip MOSFET Monitor Schemes
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可重构延迟单元，用于高效实现片上 MOSFET 监控方案的面积
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and Hidetoshi Onodera
中科院分区：
文献类型：
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作者：
A.K.M. Mahfuzul Islam;Tohru Ishihara;and Hidetoshi Onodera
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使用超低功耗、高灵敏度、无偏差亚阈值过程传感器表征随机过程变化
DOI：
10.1109/tcsi.2009.2037449
发表时间：
2010
期刊：
IEEE Transactions on Circuits and Systems Part 1: Regular Papers
影响因子：
--
作者：
Mesut Meterelliyoz;P. Song;F. Stellari;J. Kulkarni;K. Roy
通讯作者：
K. Roy
RTN对CMOS逻辑电路性能波动的影响
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
--
作者：
伊東;松本;西澤;砂川;小林;小野寺
通讯作者：
小野寺
用于 WID 可变性和 RTN 表征的非均匀环形振荡器
DOI：
10.1109/icmts.2012.6190607
发表时间：
2012
期刊：
2012 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures
影响因子：
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作者：
S. Fujimoto;I. A. K. M. Mahfzul;T. Matsumoto;H. Onodera
通讯作者：
H. Onodera
用于芯片调试和模型硬件关联的工艺偏移和工艺扩展的片上检测
DOI：
10.1109/ats.2012.66
发表时间：
2012
期刊：
2012 IEEE 21st Asian Test Symposium
影响因子：
--
作者：
Islam A. K. M. Mahfuzul;H. Onodera
通讯作者：
H. Onodera
过程中局部随机变异统计特征的片上测试结构和数字测量方法
影响因子：
5.4
作者：
S. Mukhopadhyay;Keunwoo Kim;K. Jenkins;C. Chuang;K. Roy
通讯作者：
K. Roy