Process-sensitive Monitor Circuits for Estimation of Die-to-Die Process Variability
Process-sensitive Monitor Circuits for Estimation of Die-to-Die Process Variability
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用于估计芯片间工艺变异性的工艺敏感监控电路
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Hidetoshi Onodera
中科院分区：
文献类型：
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作者：
A.K.M. Mahfuzul Islam;Akira Tsuchiya;Kazutoshi Kobayashi;Hidetoshi Onodera
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可变性：建模及其对设计的影响
DOI：
10.1093/ietele/e89-c.3.342
发表时间：
2006
期刊：
IEICE Trans. Electron.
影响因子：
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作者：
H. Onodera
通讯作者：
H. Onodera
基于环形振荡器的技术，用于测量变异性统计数据
DOI：
10.1109/icmts.2006.1614281
发表时间：
2006
期刊：
2006 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures
影响因子：
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作者：
M. Bhushan;M. Ketchen;S. Polonsky;A. Gattiker
通讯作者：
A. Gattiker
MOS 器件中阈值电压波动的快速表征
DOI：
10.1109/icmts.2007.374458
发表时间：
2007
期刊：
2007 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures
影响因子：
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作者：
K. Agarwal;S. Nassif;F. Liu;J. Hayes;K. Nowka
通讯作者：
K. Nowka
通过 65 nm CMOS 速度监控电路进行片上数字 Idn 和 Idp 测量
DOI：
10.1109/asscc.2008.4708813
发表时间：
2008
期刊：
2008 IEEE Asian Solid-State Circuits Conference
影响因子：
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作者：
H. Notani;M. Fujii;H. Suzuki;H. Makino;H. Shinohara
通讯作者：
H. Shinohara