Incomplete Tests for Undetectable Faults to Improve Test Set Quality
Incomplete Tests for Undetectable Faults to Improve Test Set Quality
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对无法检测到的故障进行不完整测试以提高测试仪质量
DOI：
10.1145/3306493
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发表时间：
2019
影响因子：
1.4
通讯作者：
Pomeranz, Irith
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Pomeranz, Irith
在一组目标故障中存在不可检测的故障意味着测试集中遗漏了可能对检测缺陷很重要的测试。本文提出了一种解决遗漏测试的方法，该方法符合计算ANN检测测试集的基本原理。本文定义了不完全测试的概念，当目标故障不可检测时，该不完全测试是相关的。未完成的测试将激活故障，但由于测试中缺少一个或多个赋值，因此无法检测到该故障。本文中描述的过程通过尝试确保每个不可检测的故障具有对于常量≥1的尽可能少的遗漏赋值的非完全测试来提高测试集的质量。不完整的测试有望有助于检测不可检测的故障位置周围的可检测缺陷。通过避免故障模拟并同时考虑所有不可检测的故障，测试的遗漏分配的计算在线性时间内完成。实验结果表明，在不增加测试数量的情况下，可以在一定程度上提高给定的测试集。
The presence of undetectable faults in a set of target faults implies that tests, which may be important for detecting defects, are missing from the test set. This article suggests an approach for addressing missing tests that fits with the rationale for computing ann-detection test set. The artcile defines the concept of an incomplete test that is relevant when a target fault is undetectable. An incomplete test activates the fault but fails to detect it because of one or more assignments that are missing from the test. The procedure described in this article improves the quality of a test set by attempting to ensure that every undetectable fault hasnincomplete tests with the smallest possible numbers of missing assignments, for a constantn≥ 1. The incomplete tests are expected to contribute to the detection of detectable defects around the site of the undetectable fault. The computation of missing assignments for a test is performed in linear time by avoiding fault simulation and considering all the undetectable faults simultaneously. Experimental results demonstrate the extent to which a given test set can be improved without increasing the number of tests.
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通讯作者：
Chung Len Lee
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A. Singh
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