Unknown response masking with minimized observable response loss and mask data
Unknown response masking with minimized observable response loss and mask data
复制标题
未知响应屏蔽，最小化可观察响应损失和屏蔽数据
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and Tatsuo Ohsuki
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Youhua Shi;Nozomu Togawa;Masao Yanagisawa;and Tatsuo Ohsuki
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用于高效片上测试压缩的通道掩蔽合成
DOI：
10.1109/itc.2004.48
发表时间：
2004
期刊：
2004 International Conferce on Test
影响因子：
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作者：
V. Chickermane;Brian Foutz;B. Keller
通讯作者：
B. Keller
使用 lfsr 重新播种对具有未知值的输出响应进行片上压缩
DOI：
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发表时间：
2003
期刊：
International Test Conference, 2003. Proceedings. ITC 2003.
影响因子：
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作者：
M. Naruse;I. Pomeranz;S. Reddy;S. Kundu
通讯作者：
S. Kundu
使用选择性压实方案进行高效 X 处理以实现高测试响应压实比
DOI：
10.1109/icvd.2005.127
发表时间：
2005
期刊：
18th International Conference on VLSI Design held jointly with 4th International Conference on Embedded Systems Design
影响因子：
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作者：
Huaxing Tang;Chen Wang;J. Rajski;S. Reddy;J. Tyszer;I. Pomeranz
通讯作者：
I. Pomeranz
X 容错压缩以及 scan-atpg 模式在双元架构中的应用
DOI：
10.1109/test.2003.1270902
发表时间：
2003
期刊：
International Test Conference, 2003. Proceedings. ITC 2003.
影响因子：
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作者：
P. Wohl;J. Waicukauski;Sanjay B. Patel;M. Amin
通讯作者：
M. Amin
使用新的 LFSR 架构对任意数量的未知数进行响应压缩
DOI：
10.1145/1065579.1065614
发表时间：
2005
期刊：
Proceedings. 42nd Design Automation Conference, 2005.
影响因子：
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作者：
E. Volkerink;S. Mitra
通讯作者：
S. Mitra