Demonstration of low temperature atomic force microscope with atomic resolution using piezoresistive cantilevers
Demonstration of low temperature atomic force microscope with atomic resolution using piezoresistive cantilevers
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使用压阻悬臂梁演示具有原子分辨率的低温原子力显微镜
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K.Miki
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T.Shiraki;Y.Miyatake;T.Nagamura;K.Miki
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