Analysis and mitigation or IR-Drop induced scan shift-errors
Analysis and mitigation or IR-Drop induced scan shift-errors
复制标题
分析和缓解 IR-Drop 引起的扫描移位错误
DOI：
10.1109/test.2017.8242055
复制
发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
X. Wen
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
S. Holst;E. Schneider;K. Kawagoe;M. A. Kochte;K. Miyase;H.-J. Wunderlich;S. Kajihara;X. Wen
扫描移位期间的过度IR压降可能导致时钟缓冲器周围的局部IR压降，并引入动态时钟偏斜。相邻扫描触发器处的过度时钟偏斜导致保持或建立时序违规，从而在移位期间破坏测试激励或测试响应。我们引入了一种新的方法来评估这种测试数据损坏的风险，在每个扫描周期和触发器。通过选择性的测试数据操作和屏蔽受影响的响应，以非侵入性的方式减轻了最可能的测试数据损坏情况。评估结果表明，我们的方法用于大型基准电路的计算的可行性，并表明，一些有针对性的模式变化提供了很大的潜在收益，在移位安全性和测试时间与故障覆盖率可以忽略不计的成本。
Excessive IR-drop during scan shift can cause localized IR-drop around clock buffers and introduce dynamic clock skew. Excessive clock skew at neighboring scan flip-flops results in hold or setup timing violations corrupting test stimuli or test responses during shifting. We introduce a new method to assess the risk of such test data corruption at each scan cycle and flip-flop. The most likely cases of test data corruption are mitigated in a non-intrusive way by selective test data manipulation and masking of affected responses. Evaluation results show the computational feasibility of our method for large benchmark circuits, and demonstrate that a few targeted pattern changes provide large potential gains in shift safety and test time with negligible cost in fault coverage.
登录
查看更多内容
GPGPU 上的高吞吐量逻辑时序仿真
DOI：
10.1145/2714564
发表时间：
2015
期刊：
ACM Trans. Design Autom. Electr. Syst.
影响因子：
--
作者：
Stefan Holst;Michael E. Imhof;Hans-Joachim Wunderlich
通讯作者：
Hans-Joachim Wunderlich
测试时钟域优化以避免由于触发器同时触发而导致扫描移位失败
DOI：
--
发表时间：
2013
影响因子：
2.9
作者：
Yu Huang;M. Tsai;Wei;J. Li;M. Chang;Min;C. Tseng;Hung
通讯作者：
Hung
重新审视高性能时钟网络的自动物理综合
DOI：
--
发表时间：
2013
期刊：
TODE
影响因子：
--
作者：
Matthew R. Guthaus;G. Wilke;R. Reis
通讯作者：
R. Reis
逻辑/时钟路径感知的高速扫描测试生成，以避免错误捕获失败并减少时钟拉伸
DOI：
10.1109/ats.2015.25
发表时间：
2015
期刊：
2015 IEEE 24th Asian Test Symposium (ATS)
影响因子：
--
作者：
K. Asada;X. Wen;S. Holst;K. Miyase;S. Kajihara;M. A. Kochte;E. Schneider;H.-J. Wunderlich;J. Qian
通讯作者：
J. Qian
限制混合模式 BIST 的编码
DOI：
--
发表时间：
2009
期刊：
IEEE VLSI Test Symposium
影响因子：
--
作者：
A. Hakmi;S. Holst;H. Wunderlich;J. Schlöffel;F. Hapke;Andreas Glowatz
通讯作者：
Andreas Glowatz