Test structures for seed layer optimisation of electroplated ferromagnetic films
Test structures for seed layer optimisation of electroplated ferromagnetic films
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用于电镀铁磁薄膜种子层优化的测试结构
DOI：
10.1109/icmts.2018.8383766
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Dover C
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Dover C
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几何形状对希腊十字结构性能影响的数值分析
DOI：
10.1109/icmts.1996.535655
发表时间：
1996
期刊：
Proceedings of International Conference on Microelectronic Test Structures
影响因子：
--
作者：
M. Newsam;A. Walton;M. Fallon
通讯作者：
M. Fallon
微机械测试结构在电镀坡莫合金薄膜应力测量中的应用
DOI：
--
发表时间：
2009
期刊：
2009 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures
影响因子：
--
作者：
S. Smith;N. Brockie;J. Terry;N. Wang;A. Horsfall;A. Walton
通讯作者：
A. Walton
DOI：
10.1088/0960-1317/26/9/095013
发表时间：
2016-09-01
影响因子：
2.3
作者：
Schiavone, G.;Murray, J.;Walton, A. J.
通讯作者：
Walton, A. J.
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DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
International Conference on Microelectronic Test Structures
影响因子：
--
作者：
J. Murray;Richard Perry;J. Terry;Stewart Smith;Andrew R. Mount;A. J. Walton
通讯作者：
A. J. Walton
种子层对平面螺旋微电感器性能的影响
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
International Conference on Microelectronic Test Structures
影响因子：
--
作者：
R. Walker;E. Sirotkin;J. Terry;S. Smith;M. Desmulliez;A. Walton
通讯作者：
A. Walton